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摘要 F^)SQ%xx "f-z3kL 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 AB1,G|L )i{B:w\ ^ UM QsYD) Lavm 建模任务 T6=q[LpsKN b3RCsIz jQLiqi` 概述 gNoQ[xFx32 39zwPoN> •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 (@y te •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ywS2`( #0wH.\79 b08s610fk )^'g2gVK+p 光线追迹仿真 RN"O/b}qQ !<P|:Oo*Dl •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 O5?Gv??@ •单击go! }co*%F{1 •获得了3D光线追迹结果。 5/>W(,5} +~~&FO2 >TqMb8e_ 8^FAeV# 光线追迹仿真 @h&crI[c Z1t?+v+Ro* •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 68k •单击go! [`eqma •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ;F:~HrxT} m.K@g1 G z:_o3W.E iO,_0Y4 场追迹仿真 k]<E1 c/ |<q9Ee •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 } 9qbF+b •单击go! JGB 9Z Zss `## W=9Zl(2C xp4w9.X5( 场追迹仿真(相机探测器) F {g^4 keBf^NY •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 [9:'v@Ph •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 G q" [5r" m\}8N
u $\DOy&e .)zX<~, 场追迹仿真(电磁场探测器) sL9,+ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 pnvHh0ck_ ?ep'R&NV bvuoo/ wQ4IQ! 场追迹仿真(电磁场探测器) &7{/ x~S{ KVvzVQ1 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 oj6b33z Q
UQ"2oC I-fjqo3 gm-I)z!tz 文件信息 J<
E"ZoY r@2{>j8 \uumNpB*n 98%M`WY C/JeD-JG QQ:2987619807 q*Hf%I"
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