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摘要 RwyX,| l~(A(1 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 2p|ed=ly% m:-=K 建模任务 vCX
54 >}H3V] 8.WZC1N 元件倾斜引起的干涉条纹 _<^mi!Y 2]:Z7Ji Ci9]#)"c 元件移位引起的干涉条纹 )i/x%^ca$ }kZ)|/]kn C.`!?CW 文件信息
:q34KP 7MZ(tOR c9O0YQ3&8
QQ:2987619807
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