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摘要 a M9v w+/`l* (IBT|K @QV0l]H0+ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 I%u 2 ce 8'u9R~}) 建模任务 ?OLd
}8y T/\RViG3 rw,Ylr:3 Xd=KBB[r? 由于组件倾斜引起的干涉条纹 RqgN<&g? *mzi ?3 <Cv(@A-> (oi:lC@h* 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 SK
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#1Y^3n ;.V/ngaj ,c4HicRJ# QQBh)5F 更多阅读 >x{("``D0y - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration 0n{.96r0R - Fizeau Interferometer for Optical Testing H:@hCO[a 7pm'b,J< xIGq+yd( QQ:2987619807 @khFk.LBD
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