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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 gvr]]}h:O  
    Hn^sW LT  
    任务/系统说明 zKMv7;s?  
    1>;6x^_h0S  
    _UIgRkl.  
    `skH-lk,  
    亮点 `axQd%:AC  
    3Tw%W0q  
     "c EvFY  
    _Q^y_f  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） 2<m Q,,j  
     严格分析光栅衍射效率 v?{vg?vI  
     考虑入射光的方向分布 4K'|DO|dH  
    U,d2DAvt  
    说明：光源 -s33m]a;  
    iz(m3k:w  
    ,i;9[4QMX  
    8_Jj+  
    说明：光束分束器 `>y[wa>9r  
    D/*vj|  
    ^@Y9!G=  
    9<w=),R`8  
    说明：检测透镜系统 kp.|gzA6  
    F*. /D~K  
    E s:5yX!  
    $Uy#/MX  
    说明：微型晶片 9M nem*  
    x@Sra@  
    epYj+T  
    qb9}&'@:  
    说明：检测物镜 pBvo M={2!  
    p>!1S  
    XWc|[>iO  
    z(jU|va{_1  
    说明：探测器 _3I3AG0e  
    EO"=\C,  
    2-PI JO  
    Ag<4r  
    结果：3D光线追迹（只有0级） M$#+W?m&  
    >*Sv0#  
    ;+r0 O0;9  
    e5FCqNip'  
    结果：3D光线追迹（所有级） ZIDFF  
    Fu#Y7)r  
    [;Vi~$p|Eo  
    >[ @{$\?x:  
    结果：光线追迹 2k%Bl+I  
    gca|?tt  
     +Z )`inw  
     I8:"h  
    结果：场追迹 3SmqXPOw  
    IM$ 'J  
     <.: 5Vx(Aw  
    B>1M$3`E  
    结果：线性偏振光的场追迹 ozT._ C  
    XL=2wh  
    < JGYr 4V  
     K~P76jAe$  
    文档和技术信息 UnJi& ~O  
    u|(aS^H=q  
     "tpvENz2s  
    n (9F:N  
     H 3W_}f  
    QQ：2987619807 6ch@Be5*  
     
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