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摘要 xV n]m9i "13
:VTs[5 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 o+)LcoPu m)[wZP*e 建模任务 !irX[,e 9tc@
Vm1 c-,)3 元件倾斜引起的干涉条纹 #Zavdkw=d 9h,yb4jPP WEV{C(u<k! 元件移位引起的干涉条纹 i:Z.;z$1 t6L^
#\' X $9D0;L 文件信息 {z[HNSyRs Am=PUQF$ [vjkU7;7A
QQ:2987619807
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