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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core (sVi\R  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 7 |DHplI  
    9UvXC)R1  
    Mq';S^  
    N !TW!  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 !w&kyW?e  
    R<B7K?SxV~  
    <n3!{w3<  
    CI3XzH\IX*  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 J\ e+}{  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” @?h/B=5 6  
    R8.CC1Ix  
    @A)R_p  
    wEzKqD  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 Nk {XdrY  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 {BKl`1z  
    ca+[0w@S  
    @)SL_9  
    OyqNLR  
    y8fsveX  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 Ivb 4P`{  
    eb*#'\~'  
    =y=cW1TG  
    P./VmY'  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 p !s}=wI `  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 T?4G'84nN  
    /lafve~  
    u,3#M ~  
    .!JVr"8  
    PfkrOsV/m  
    aF7nvu*N  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 $0arz{Oh  
    id$Ul?z8  
    37;$-cFE  
    P6MRd/y |  
    Runsheet _V\Bp=9W  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 6 PxW8pn  
    }.z&P'  
    .; &# )l  
    _v* nlc  
    Function $-On~u0g  
    }2ZsHM^]%  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 *3D%<kVl  
    , lJ  v  
    UUMtyf  
    8Dvazg}4  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 HI@syFaJM  
    e${)w-R/e  
    讯技光电科技(上海)有限公司 o-o'z'9  
    电话:86-21-64860708  \lSU  
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