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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core mX<D]Z< k  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 >s1HQSe66  
    Jcy`:C\Ay  
    z\;kjI  
    :}E*u^v K  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 `_f3o,5  
    0|HhA,u  
     R z[-  
    /1O6;'8He  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 atPf527\`  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ;aD_^XY  
    /a]+xL  
    Y}4dW'  
    1pcSfN:"1  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 6k ^vF~  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 1Ce:<.99B  
    S;CT:kG6Y{  
    ~kYF/B2*  
    @w2}WX>  
    [TNYPA> {  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 6_9w1 ,W E  
    |=7%Edkd  
    _Jx?m  
    (s}9N   
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 *gBaF/C  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 #?aR,@n  
    Q>X ;7nt0  
    G"J6X e  
    (spX3n%p  
    S:DB%V3  
     gs9f2t  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 q/]tJ{FI  
    m@jOIt!<  
    y*zZ }>  
    @ cv`}k  
    Runsheet CMTy(Z8_)  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 EQ7cK63  
    TzPVO>s  
    ujwI4oj"c  
    !WDdq_n*v  
    Function c5Offnq'1  
    '"I"D9;9  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 B{zIW'Ld  
    Q>||HtF$A  
    ay4|N!ExO  
    )TXn7{M:  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 #Xsby  
    G|H\(3hHLZ  
    讯技光电科技(上海)有限公司 k 9s3@S  
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