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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core xMfv&q=k@  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 I}W-5%  
    |`t!aG8  
    +8vzkfr3It  
    Mb 2 L32  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 a^}P_hg}-  
    }vxH)U6$q  
    &_^*rD~  
    )6R#k8'ERr  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 r dG2| Tp  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 7pI \`*7b  
    UG?C=Tf  
    `=l{kBZT|  
    NUNn[c  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 J)yy}[Fx  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 :iNAXy  
    Jx ;"a\KD  
    Md?bAMnG+}  
    'St= izhd  
    hy&Hl  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 q fH~hg  
    ${?exnb$  
    @G$<6CG\  
    0S5C7df  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ut5!2t$c  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 K,,@',  
    ~md|k  
    1 l*(8!_  
    tfKeo|DM"  
    &MQt2aL  
     nIDsCu=A  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 n]fbV/ x  
    /uz5V/i0  
    68GGS`&  
    "oXAIfU#T  
    Runsheet &?Z)V-1H  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 ?G>TaTiK#  
    j}.J$RtW1f  
    <W%Z_d&Xv  
    CU`Oc>;*T  
    Function GGL4<P7  
    t7+Ic  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 tc2GI6]e'  
    =bg&CZV T  
    ?_j6})2zY  
    -+_aL4.  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 0#{]!>R  
    7>@/*S{X  
    讯技光电科技(上海)有限公司 n@,eZ!  
    电话:86-21-64860708 ;AB,:*  
    传真:86-21-64860709 =yhfL2`aw  
    课程:course@infotek.com.cn V >uW|6  
    业务:sales@infotek.com.cn 4-rI4A<  
    技术:support@infotek.com.cn jLS]^|  
     
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