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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core X[j4V<4O  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 z ]o&^Q  
    Y'Wj7P  
    m?;)C~[  
    hB P]^~(  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ^T(l3r  
    "Z &qOQg%3  
    r$k *:A$%  
    W$:;MY>0f  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 *S~. KW[  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” "!E(= W?  
    ~M(K{6R  
    bt%k;Z]  
    MukPY2[Am  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 1_7x'5GdA  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 [ueT]%  
    ~K:#a$!%,  
    # Sb1oLC  
    ?.\ CUVK  
    MA(\ r  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 wMt?yc:X  
    fAUtqkB  
    n@T4z.*~lA  
    6by5VESx  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 Bq79Ev .-  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 \{{B57/Isq  
    Q!GB^ P  
    k W/3 Aq7r  
    /  DeI s  
    d";+8S  
    ghbxRnU}  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 #4%,09+  
    +Y)rv6}m  
    LNXhzW   
    vB/MnEKR  
    Runsheet KSh<_`j  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 >I]t |RT])  
    ^uIZs}=+  
    rm2{PV<+d  
    aODOc J N  
    Function HxU.kcf  
    h(GgkTj4+  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 ,GVHwTZ0`  
    W zy8  
    *ubLuC+b  
    ofcoNLX5c  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 +;:i,`Lmg  
    .H7"nt^  
    讯技光电科技(上海)有限公司 [5a`$yaQ  
    电话:86-21-64860708 WZ6!VE {  
    传真:86-21-64860709 hkHMBsNi  
    课程:course@infotek.com.cn sw{EV0&>m  
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