举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
> dTJ RLE
nnm9pnx ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
;%V%6 : 5 WAVL .6562700 .5875600 .4861300
+l,6}tV9 APS 1
1D p Rm( GLOBAL
fjh0Z i45 NOSEQUENTIAL
]mW) T0_ UNITS MM
. eSMI!Y= OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
wB0zFlP 0 AIR
^:yg,cS|Be 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
\EC=#E( 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
Gw;[maM!%` 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
/h!Y/\ kI 1 CC -1.04500000
Owa]ax5 1 AIR
c_33.i"I} 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
)^ky @V 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
mu!hD ^fw 2 AIR
[9O,C-Mk END
I 9 R\)3" p^s k?E RSOL 10 20 2 0 123
\AT]$`8@_ PLOT
-'sn0 _q/e hSvA
dT]m BLUE
PI~W6a7p PUP 1 200
@YMQbjbr &Vtgh3I OBI INDEX 0 1
;{Sgv^A TRACE P 0 0 200
WG_20JdJY xGzp}
OBI INDEX 0 0
A/xWe RED
4G%!t`? q TRACE P 0 0 200
S4jt*]w5b 0F\ e*{gc OBI INDEX 0 -1
*FwHZZ~U GREEN
nn"Wn2ciS PUPIL 1 200
'|\et aD TRACE P 0 0 200
0V:DeX$bZ END
MWHGB")J 
bYKyR}e iuX82z` 评估光线分布的方法：
n tfwR#j 1.查看在最终表面上的足迹图
\I"UW1)B 在Edit Window中输入：
[;Q8xvVZ' 2nQrCdRC PUPIL 1 400
H9["ZRL,Q RED
H8ws6}C OBI IND 0 0
;gh#8JkI PLOT 2 1 0 0
D{](5?$`| TRACE P 0 0 400
M =!RJ%6f OBI IND 0 1
t p3>aNj BLUE
NjCdkT&g TRACE P 0 0 400
M@>EZ OBI IND 0 -1
>t/P^fr_F GREEN
C^ hHt,& TRACE P 0 0 400
`FP)-^A8 END
6T}bD[h4? 
vFK&63 q>~\w1%}a\ !*0\Yi ,6 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
%G<!&E!0h 2 o`a^'Iw OBI INDEX 0 1
Q}J'S5% GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
]to"X7/ OBI INDEX 0 0
i4Y_5 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
b"ypS7
_ OBI INDEX 0 -1
<bwsK,C GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
8QeM6;^/5 H:X= v+W FOR RECTANGLE
wo>srZs SIZE 5 5
wp!< u
% VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
<"u T=]wZ= PLOT
)p-B@5bb 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
({ 7tp!@ 
O ?8^I< $XqfwlUu/4 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
No)v&P% 输入格式：
g& y R - 
OXC7
m
