举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
SjV;&
1Z/ RLE
M%pxv6?""{ ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
j: B ?0~= WAVL .6562700 .5875600 .4861300
O`5PX(J1& APS 1
?RJ
) u GLOBAL
\E1[ / NOSEQUENTIAL
z[Xs=S!]I UNITS MM
RhIRCN9 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
zY_Bn J^ 0 AIR
L nP={s 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
<o,]f E[ 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
f{MXH&d 1\ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
d|CSW cU 1 CC -1.04500000
]+\;pb}bq 1 AIR
|1C=Ow*" 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
5D 9I;L{ 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
L b; :< 2 AIR
mlc0XDS%
END
H!mNHY_fA {^zieP! RSOL 10 20 2 0 123
W m\HZ9PN PLOT
[F{q.mZj gB b+Q, BLUE
:@# '&(# ~ PUP 1 200
NF+ ^ r(-`b8ZE OBI INDEX 0 1
5<h7+ %?t9 TRACE P 0 0 200
_tDSG] :E'uV" j% OBI INDEX 0 0
$'Z\'<k[ RED
s{x{/Bp(KK TRACE P 0 0 200
E-jL"H* #vCtH2 OBI INDEX 0 -1
+EG?8L,z GREEN
O2./?Ye PUPIL 1 200
L5$r<t< TRACE P 0 0 200
T pXbJ]o9 END
uj#bK
7 
OXc!^2 ^ # rnO=N8 评估光线分布的方法：
\`3YE~7J/ 1.查看在最终表面上的足迹图
$j=c;+W 在Edit Window中输入：
9>,$q"M }? Xm,w.|dx PUPIL 1 400
@vzv9c[ RED
40,u(4.m* OBI IND 0 0
S%J $.ge PLOT 2 1 0 0
HUUN*yikj TRACE P 0 0 400
8+'9K%'@qX OBI IND 0 1
j 6x1JM BLUE
#nG?}*# TRACE P 0 0 400
Sh&n
DdF" OBI IND 0 -1
$OEhdz&Fi GREEN
@BCws ) TRACE P 0 0 400
~2 aR>R_nT END
e (nT2E 
$&D$ Uc`U> +pDZ,c, nO-1^HUl 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
^f][;> c Qb "\j OBI INDEX 0 1
ig
G8L GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
EVs.'Xg< OBI INDEX 0 0
z*,P^K 0T GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
?+6w8j%\ OBI INDEX 0 -1
c*F 'x-TH GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
-jN:~. mx\b6 w7 FOR RECTANGLE
f0 iYP SIZE 5 5
;&="aD VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
q]PeS~PjF\ PLOT
vm,/?] P 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
ZWJ%t'kF 
lJZ-*"9 V }~/u%vI@M5 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
$:&?!>H 输入格式：
Tz/=\_} 
p\xi 5z
