举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
S|m|ulB RLE
CZkmd ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
PD-*rG ` WAVL .6562700 .5875600 .4861300
+[[^W;<.l APS 1
$kxu- GLOBAL
BoHNni NOSEQUENTIAL
7H?lR~w UNITS MM
,]tMZ?n8 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
<lRjh7 0 AIR
@={
qy} 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
{gB9EGY 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
s6Il3Kf 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
bj@f<f` 1 CC -1.04500000
~eXI}KhBw6 1 AIR
x}O J~Yk] 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
JHJ]BMm 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
q<cxmo0S 2 AIR
nHQWO
END
!HF<fn %kuUQ%W1 RSOL 10 20 2 0 123
AH^ud*3F PLOT
`6v24?z K}p0$Lc BLUE
VwT&A9&{8 PUP 1 200
^$y`Q@-9 5dL! e<< OBI INDEX 0 1
9 6%N TRACE P 0 0 200
5m?9O7Pg )qRE['M OBI INDEX 0 0
%Lp#2?* RED
88l{M[B2 TRACE P 0 0 200
,hCbx#h 5-:H OBI INDEX 0 -1
}&^1")2t GREEN
{#z[iiB PUPIL 1 200
*~d<]U5h TRACE P 0 0 200
,E2c9V' END
r>t|.=! P8 R^46 oz l>Au 评估光线分布的方法:
!4$-.L)# 1.查看在最终表面上的足迹图
~oRT@E 在Edit Window中输入:
(w
Q,($@ <,J O PUPIL 1 400
?8q4texf[ RED
ogoEtKi OBI IND 0 0
vQ>8>V PLOT 2 1 0 0
5oo6d4[ TRACE P 0 0 400
Q>TNzh OBI IND 0 1
DKG;up0 BLUE
-$`q:j TRACE P 0 0 400
G#6O'G
N OBI IND 0 -1
@QDpw1;V' GREEN
F`.W 9H3 TRACE P 0 0 400
CH $*=3M END
=27Z Y Z \(U|& <@;bxSUx ix 5\Y 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
^CB@4$! J,k.*t: OBI INDEX 0 1
a)!R4 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
jK2gc^"t OBI INDEX 0 0
\# 1p GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
vyT-!mC OBI INDEX 0 -1
#/)U0IR) GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
B X O, ,n$HTWa@0 FOR RECTANGLE
M+7jJ?n SIZE 5 5
`-5gsJ
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
#2%8@?_-M PLOT
KD'}9{F, 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
X&!($*/ F`o"t]AD-a Nb\B*=4AR 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
_w7yfZLv+ 输入格式:
yg"FF:^T c\rP"y|S};