举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
ajEjZ6 RLE
ynQ: >tw ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
}R{ts WAVL .6562700 .5875600 .4861300
r4SXE\
G APS 1
X"fb; sGT GLOBAL
=o$sxb
E( NOSEQUENTIAL
o6uJyCO UNITS MM
9J2NH|]c OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
o{y9r{~A 0 AIR
V)[@98T_4? 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
0E3[N:s 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
'2 PF 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
ci?qT,& 1 CC -1.04500000
md"!33 @ 1 AIR
*=V~YF:Qb 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
qm"rY\: 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
<4HDZ{"M 2 AIR
f}9zgWU END
?j"KV_ PoxK{Y RSOL 10 20 2 0 123
]7Tkkw$ PLOT
4b98KsYg .K1FKC$C BLUE
KbA?7^zo` PUP 1 200
Z$/xy" ,F,X
, OBI INDEX 0 1
YoBDvV":@ TRACE P 0 0 200
AP'*Nh@Ik( Bu#VMkchJ OBI INDEX 0 0
P\1L7%*lU RED
wk5s)%V TRACE P 0 0 200
Brf5dT49 ~a ]+#D OBI INDEX 0 -1
n>BkTaI GREEN
`erV$( M PUPIL 1 200
jIC_[ TRACE P 0 0 200
=THpdtL END
y1dDO2mA 8%A#`)fb
u{['<r;I 评估光线分布的方法:
1g8_Xe4 1.查看在最终表面上的足迹图
}fb#G<3 在Edit Window中输入:
'
aq!^!z \LR~r%(rM PUPIL 1 400
3@dL/x4A RED
Qz5sxi OBI IND 0 0
a&/#X9/ PLOT 2 1 0 0
k_
& :24Lj TRACE P 0 0 400
E8$20Ue OBI IND 0 1
TN+iA~kQ BLUE
5:Z0Pt TRACE P 0 0 400
47+&L OBI IND 0 -1
+B B@OW GREEN
lr>oYS0 TRACE P 0 0 400
;oW6 NJ END
j*so9M6|c 3x{t( ,':fu 6Ypc` 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
8 OY 3A *|%@6I( OBI INDEX 0 1
ORe(]I`Z GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
52:HNA\E/ OBI INDEX 0 0
l{I6&^!KS GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
3er nTD*` OBI INDEX 0 -1
U}yW<#$+ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
*H"B _3<n S?1AFI9{ FOR RECTANGLE
0^I|ut4 SIZE 5 5
q)X$^oE!6 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
IUE~_7 PLOT
"c3Grfoz 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
S%bCyK%p @L<*9sLWh IHam 4$~- 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
U`R5'Tf; 输入格式:
wvO|UP H\ s)noo