举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
~GuMlV8 RLE
xil[#W]7Ge ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
l ^d[EL+ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
]r3Kg12Mi APS 1
O:{U^K:* GLOBAL
(mtoA#X1:h NOSEQUENTIAL
p-%|P]& UNITS MM
t6BHGX{o OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
<" @zn 0 AIR
oG7q_4+& 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
yQ3OL# 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
}<z_Q_b+e 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
U:MPgtwe 1 CC -1.04500000
6YuY|JD 1 AIR
peJKNX.!q 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
XyMG.r-, 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
^m/14 MN| 2 AIR
=?h~.lo END
X[2[!)Rk 7 ~ztwL RSOL 10 20 2 0 123
~2d:Q6 PLOT
?:|-Dq, }n7th BLUE
?<Y+peu PUP 1 200
~Ph\Sbp c}[+h5 OBI INDEX 0 1
;Nr ]X TRACE P 0 0 200
;f,c't@w _5MNMVLwW OBI INDEX 0 0
#{9G sD RED
"lNzGi-H TRACE P 0 0 200
5'w^@Rs5 QQe;1O OBI INDEX 0 -1
`VQb-V GREEN
9'x)M?{8 PUPIL 1 200
83cW=?UgA TRACE P 0 0 200
"xAWG$b END
CSV;+,Vv DFO7uw1 WZ!WxX>zO 评估光线分布的方法:
4f~["[*ea 1.查看在最终表面上的足迹图
$T<}y_nHl 在Edit Window中输入:
fWF|,A>>b FuX 8v PUPIL 1 400
-Q;#sJ? RED
MHL("v(@B OBI IND 0 0
!:LJzROh PLOT 2 1 0 0
>)_ojDO TRACE P 0 0 400
0)Rw|(Fpo] OBI IND 0 1
l7JY]?p BLUE
s7r9,8$ TRACE P 0 0 400
xt4)Ya OBI IND 0 -1
$jd<v1"o GREEN
XT,#g-oi TRACE P 0 0 400
`(0LK%w END
kl1Y] ?z} ;Qi }{;+ 7@a 0$coP a;$P:C{gj? 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
xjdw'v+qZo cgC\mM4Nla OBI INDEX 0 1
U-0#0} _ GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
/w]&t\]* OBI INDEX 0 0
}<MR`h1 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
Q36)7=at OBI INDEX 0 -1
8*g ^o\M GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
SbsouGD,{ ]%RNA:(F' FOR RECTANGLE
rZbEvS SIZE 5 5
Bn]K+h\E VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
@\(v X ] PLOT
I~'*$l 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
'?o9VrO &"uV~AM 1u]P4Gf= 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
g"Qh]: 输入格式:
C9Bh@v%90^ BbJkdt7