摘要
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N H *c~T@m~DR 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
Gn|F`F uD1e!oU ?t/~lv !c}O5TI|# 建模任务
2z6yn?'&L >XY`*J^ uw[<5 概述
[Sr,h0h6 U=DmsnD, •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
{5%5}[/x •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
Izhee%c _hRcc"MS` Bt>}rYz1 r"``QmM 光线追迹仿真
tk!t
Y8j ),U X4%K= •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
Bg&i63XL$$ •单击go!
LQ(yScA@ •获得了3D光线追迹结果。
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x, @y='^DQ* }Mf!-g 光线追迹仿真
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Fz?d3; {Or; •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
w.H%R-Be •单击go!
biSz?DJ> •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
W%T>SpFl jX3,c%aQ5e H<v'^*( q*F{/N** 场追迹仿真
q#vQv5 lDOCmdt@N •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
giZP.C"0 •单击go!
]$Yvj!K*Q [`^a=:* MS\>DW A*2
bA 场追迹仿真(相机探测器)
&>%T^Y|J4 .QA }u ,EN •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
R%Q@ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
6^]!gR#B @2Z#x BFL`!^ t?}zdI(4 场追迹仿真(电磁场探测器)
]z l[H7 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
B$b +Ymu '+osf'& }emN9Rj ppZDGpp 场追迹仿真(电磁场探测器)
Z @^9PQG$ q:dHC,fO •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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