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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-11
    摘要 4 N H  
    *c~T@m~DR  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 Gn|F`F  
    uD1e!oU  
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    建模任务 2z6yn?'&L  
    >XY`*J^  
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    概述 [Sr,h0h6  
    U=DmsnD,  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 {5%5}[/x  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Izhee%c  
    _hRcc"MS`  
    Bt> }rYz1  
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    光线追迹仿真 tk!t Y8j  
    ),UX4%K=  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Bg&i63XL$$  
    •单击go! LQ(yScA@  
    •获得了3D光线追迹结果。 WFO4gB*  
    Y? x,  
    @y='^DQ*  
    }Mf!-g  
    光线追迹仿真 ;i Fz?d3;  
     {Or;  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 w.H%R-Be  
    •单击go! biSz?DJ>  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 W%T>SpFl  
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    q*F{/N **  
    场追迹仿真 q#vQv 5  
    lDOCmdt@N  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 giZP.C"0  
    •单击go! ]$Yvj!K*Q  
    [`^a=:*  
    MS\>DW  
    A*2  bA  
    场追迹仿真(相机探测器) &>%T^Y|J4  
    .QA }u ,EN  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 R%Q@   
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6^]!gR#B  
     @2Z#x  
    BFL`!^  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) ]z l [H7  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 B$b +Ymu  
    '+osf'&  
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    ppZDGpp  
    场追迹仿真(电磁场探测器) Z @^9PQG$  
    q:dHC,fO  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ~~v3p>zRr  
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