-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2024-05-17
- 在线时间1264小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 vZ_DG}n11 1v[#::Bs {R1Cxt} %Zl_{Q]h 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 :nbW.B3GV ,h wf 建模任务 psyH?&T G8<It5CU *xZQG9`kt <Hr@~<@~ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 qN`]*baS Ro3I/NI> zM8/s96h @WDqP/4 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 R<0!?`b #r:Kg&W2FO UQji7K } m|Q&Lphb8 文件信息 1+i G"UH4n[1ur EbwZZSds1
|