[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 BLZ#vJR  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 *vt5dxB  
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1. 案例 b~fX=!M  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 E}AOtY5a  
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1. 系统构建模块 @Gp=9\L  
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Ot}fGiio  
2. 组件连接器 Atl`J.;G  
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几何光学仿真 d]1%/$v^  
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以光线追迹 XndGe=O  
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1. 结果：光线追迹 8 2qf7`  
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快速物理光学仿真 U'^AJ2L8  
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以场追迹 hsV+?#I  
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1. NA=1.4时的光栅成像 hZGoiWC  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 { 3``To$  
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3. NA=0.5时的光栅成像 a<X8l^Ln  
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