[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 DT`HS/~fH  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 q5_zsUR=  
Yk|6?e{+)  

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Nud =K'P=  
1. 案例 c0zcR)=mL  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 U,WMP<5&  
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1. 系统构建模块 x:Q\pZ  
ycBgr,Ynu<  

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2. 组件连接器 iF+:j8 b  
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W^8  
  Da 7(jA+  
几何光学仿真 #//xOL3J  
HDV-qYD|O~  
以光线追迹 w(V%EEk  
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1. 结果：光线追迹 S'!&,Dxq^  
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p/(Z2N"  
  )zxb]Pg+  
快速物理光学仿真 pL,XHR@Iv  
 ?^Aj\z>  
以场追迹 :
4zu.  
6]iU-k0b  
1. NA=1.4时的光栅成像 lNxP  
f!kZyD7  

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J>v[5FX+  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 Z 0
1A~_  
6m$X7;x}  

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QwX81*nx  
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3. NA=0.5时的光栅成像 Q$ew.h  
   b3%x&H<j  

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