左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
\v x' +} 系统简介 r"7 PSJ
P8#_E{f ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 8QMMKO ui\ m^zD'] 特征及技术参数 8#R%jjr%T
&> _aY # - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， A
k~|r#@ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） q Y!LzKM0 - 入射光与探测器可共面或异面。 ;dtA-EfOZ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 ]<ay_w; - 可对样品进行扫描。 3UF^Ff<wo - 动态范围： 13个数量级。 bl^pMt1fv - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ,S
m?2< - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 xnJ#}-.7 - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 oCLM'\ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 _j4 K - 方便操作的测量及分析软件。 >l=jJTJ;q - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 P8H2v_)X& t|9vb 应用 ' R2*3<
G^z>2P 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 Dw 5Ze - 产品质量检测。 @\:@_}Z`_} - 光学性能分析。 `Ba?4_>k - 粗糙度分析。 0C3Y =F >p#_ L^oZ%
Q/J <$W*, QQ：2987619807 asE.!g?
