切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 218阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    在线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4778
    光币
    18266
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 h"u<E\g  
     vXy uEEe  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 .Na&I)udX.  
    Q(IJD4  
    ShWHHU(QQ  
     selP=Q!  
    1. 案例 8ji^d1G,  
    8"km_[JE e  
     a{]g+tGH  
      ='dLsh4P2N  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 NqJ<!q)  
     Pqy-gWOv  
    1. 系统构建模块 Yzj%{fkh  
    ;RWW+x8IB  
     xdd:yrC   
    9W1;Kb|Z<  
    2. 组件连接器 p!+L  
    i>Z|6 5  
    n}< ir!ZTO  
          R9tckRG#  
    几何光学仿真 0LWdJ($?  
     ycgfZ 3K  
    以光线追迹 '8 )Wd"[  
     Md8(`@`o  
    1. 结果：光线追迹 e7@li<3>d  
    j\2] M  
    1P_Fe[8  
          \#PP8  
    快速物理光学仿真 wL'oImE  
     {]&R8?%  
    以场追迹 DpA\r_D  
     }*iAE>;  
    1. NA=1.4时的光栅成像 p{NPcT%&  
    )fNGB]%  
     (E!%v`_0  
    EVR! @6@  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 c}\ ' x5:o  
       |vv]Z(_  
    3PfiQ|/b  
    VR "u*  
    3. NA=0.5时的光栅成像 x.I][(}  
       aSRjFL^  
    "?$L'!bM@  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表