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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 /;q 3Q#  
    >W/mRv&  
                               g] IPNW^n  
    %y>*9$<pXe  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 <uoVGV5N  
    [}Rs  
    建模任务     1$ }Tn  
    e5FF'~A%]  
    )<'2 vpz  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 }|=Fnyj  
    &kWT<*;J)  
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    a&mL Dh/  
    图层矩阵解算器 9XS>;<"2  
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     W>x.*K  
    Bq4@I_b  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 E'+z.~+  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 4|j Pr J  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Ttb?x<)+8  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 n ]l3 )u  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Y.52`s6F  
    n*AN/LBp  
    更多的信息： )h(=X&(d  
     - sq= |  
    总结-组件 ,*L3  
    tC+1 1M  
    {Aj=Rj@  
     &ML-\aSal  
    ^#h ;bX#  
    两条光谱线的可视化 M6Ik'r"M  
    {>ghX_m |  
     |F =.NY  
    精细vs.涂层反射率 W$D:mw7  
    L[+4/a!HQ  
    uXGAcUx(  
    T%PUV \LV  
    精细度vs.涂层反射率 ncR]@8  
    /I`-  
    >#;>6q9_  
    内部谐振增强     RbA.&=3  
    dHn,;Vv^6  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 y?*Y=,"  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 }mk z_P(Z  
    |t58n{V.O  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 D|C!KF (  
    i Hcy,PBD  
    VirtualLab Fusion技术 ]*rK;  
    )Ee`11  
     _^0UK|[  
     
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