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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 &k /uR;yw  
    *7C t#GC  
    任务/系统说明 P"J(O<(1-:  
    1f]04TI  
    9pKN^FX,76  
    ~n$VCLa  
    亮点 7u!i)<pn  
    TKpka]nJ  
    ErK5iTSD  
    .v36xXK(  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) hBf0kl  
     严格分析光栅衍射效率 Ll%CeP  
     考虑入射光的方向分布 \f6SA{vR|  
    Gpws_ jw  
    说明:光源 IcMfZ {H1  
    .eAN`-t;  
    NDW6UFd>1  
    Cpu L[|51  
    说明:光束分束器 4=S.U`t7  
    Y]aVa2!Wb  
    EELS-qA  
    Xm./XC  
    说明:检测透镜系统 *p}b_A}D  
    DIH|6R  
    &v7$*n27  
    *Ppb;   
    说明:微型晶片 /s"mqBXCG  
    ]a )o@FI  
    Bb2;zOGdA  
    A*jU&3#  
    说明:检测物镜 iB;EV8E  
    ;*^2,_  
    C?jk#T  
    Tf/jd 3>  
    说明:探测器 <rZ( B>$  
    4}@J]_]Z  
    kLa9'c0  
    P` Hxj> {  
    结果:3D光线追迹(只有0级) ?AC flU_k  
    m~c z  
    R57>z`;  
    XKD0n^L[  
    结果:3D光线追迹(所有级) C7#ji"t  
    D#}t)$"  
    !sWKi)1  
    w& yK*nBK  
    结果:光线追迹 F?#^wm5TZ  
    e 4-  
    P_S^)Yo  
    \$GM4:R D  
    结果:场追迹 &)[?D<  
    IE7%u 92  
    {;uOc{~+  
    G`H4#@]  
    结果:线性偏振光的场追迹 qxKW% {6o  
    coa+@g,w7#  
    m)l<2 `CM  
     
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