切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 京东6.18购物红包，每天领三次！ 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 98阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4741
    光币
    18081
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-07
    摘要 t zSg`7H!  
    YhJ*(oWL  
     ~e R6[;  
    qh~S)^zFJ  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .="[In '  
     D3kx&AR  
    建模任务 6)Dp2  
    O-YB +~"3Z  
     m/>z}d05h  
    y3)R:h4AH  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 2ZZF hj  
    4I<U5@a  
     '3V?M;3|K  
    7EukrE<b'  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 <P)0Yu  
    @Z%I g  
     *q+z5G;O  
    \`,,r_tO  
    文件信息 F` gQ[  
    oB]   
     _9Y7. 5  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表