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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 fhWD>;%F%  
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                               G6bg ~V5Q:  
    &/FwV'  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 5&Kn #  
    :Rx"WY  
    建模任务     [t) i\ }V  
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    TN_$E&69I  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 |Cq J2  
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    DA@hf  
    图层矩阵解算器 3(p6ak2lv  
    C>VZf,JE1  
     4x=Y9w0?8  
    6+#cyKj  
    *lO+^\HXD  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 hkI);M+@6  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 A6.'1OD  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 !\4FIs&Qv  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ha~s< I  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     n9-[z2n  
    N\&;R$[9:  
    更多的信息： M oHvXp;X  
    .LHe*JC  
    总结-组件 2=+ ,jX{  
    X6 cb#s0|  
    dq(L1y870  
     %n,bPa>T  
    A@'W $p?5r  
    两条光谱线的可视化 >f8,YisH  
     2oASz|  
     Mp=+*I[  
    精细vs.涂层反射率 ~-i?=  
    XePBA J  
    qNL~m'  
    !,"G/}'^;  
    精细度vs.涂层反射率 OG`O i^2  
    "ukbqdKD  
    Vrh],xK7  
    内部谐振增强     V1;-5L75  
    >FNt*tX<0  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ro@BmRMW  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 JqZ5DjI:  
    RoRVu,1  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 TD7ONa-,  
    ,cEcMaJ  
    VirtualLab Fusion技术 )v0vdAh'b  
    gs >cx]>  
     Pme?`YO$x  
     
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