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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    KW<CU'  
    摘要 $)V4Eu;  
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    &@-glF5  
         'h6RZKG T  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 h6t>yC\  
    06$9Uz9  
    建模任务 ,V?,I9qf  
    Ls{fCi/2F  
    }1dh/Cc`  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 H_FhHX.2(  
    8>9+w/DL  
    T-TH. R  
    %?jf.p*kY  
    图层矩阵解算器 V^i3:'  
    ehq6.+l  
    W]OT=6u8o  
    IpxjP\  
    Y')+/<Q2E  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 nabN.Ly  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 t/g}cR^Q  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 }0G Ab2  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 SH.'E Hd  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 *&D=]fG  
    更多的信息: ;+U9;  
    f]}F_]  
    总结-组件 e j9G[  
    L;[*F-+jD  
    85mQHZ8aR  
    $BY{:#a]  
    O]>`B{  
    ;l'I. j  
    两条光谱线的可视化 )-@EUN0E>5  
    $u :=lA:N  
    精细vs.涂层反射率 =j0V/=  
    Ou^dI  
    6D],275`J  
    2wd(0K}b  
    精细度vs.涂层反射率 $H^6I8>  
    QVpZA,  
    j4h 7q<  
    内部谐振增强
    &ly[mBP~  
    [H1NP'Kg]  
    M<"D!h9YP  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Z=|@76  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Li2)~4p><  
    7@FB^[H:y  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 abND#t  
    VsC]z, oV  
    VirtualLab Fusion技术 RC 48e._t  
    >BX_Bou  
     
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