如何对中频误差进行评估和公差分析

附件中提供的“MC_BEST.ZMX”和“MC_WORST.ZMX”可以用来检查。

我们可能会碰到获得性能较差结果的情况。所以，这要求我们的公差参数必须设置为合理的值，或者凭借经验得出的更好的参数方案。制造商也可能提供类似零件的性能表现信息，或者帮助预测最坏的结果，在确定设计方案前，这些信息是镜头设计过程中的关键。

注意事项

大部分面型都考虑了掠入射的情况，但是中频面型的周期部分没有考虑掠入射，所以有些情况可能无法提供准确的结果，比如一种广角物镜的第一个表面。此DLL将不适用于这种情况。

对于从高折射率材料到低折射率材料的表面，波纹表面上可能会发生全内反射 (TIR)，从而使光线追迹停止。

周期非常小的不规则度（达到波长的大小量级时）计算可能不准确，因为该表面将无法考虑衍射效应。

对于模压塑料光学零件，形状上的 根切 (undercut) 是可以进行光线追迹的，但并不实际。

总结

我们研究了一种零件加工或模造上可能出现的同心加工误差和不规则度的建模方法。原理是将偶数非球面、Zernike多项式和周期函数结合，并编成用户定义的DLL，使其成为参数化表面（不同于CAD物体的非参数化表现形式）。使用周期分量作为参数实现了序列模式下的设计、仿真以及运行公差分析的能力。