薄膜光学（第4版，麦克劳德）

本书作者是国际镀膜界的权威专家。本书系统论述了薄膜光学滤波器的基本理论及相关技术，既介绍了最新成果，又提供了大量详实的图表及数据；既有系统的理论分析、数据计算结果，又有实用器件的结构参数。内容具体包括增透膜、中性平面镜和分束镜、复合高反射率涂层、边缘滤波器、带通滤波器、斜涂层、光学涂层的颜色、膜的均匀度和厚度监测、滤波器的规格和环境影响、系统考虑、滤波器和涂层的应用等。 DqA$%b yyE  
@nOuFX4  
{=6CL'_  
出版社: 科学出版社; 第1版 (2016年3月1日) lu;gmWz  
外文书名: Thin-Film Optical Filters(Fourth Edition) D*t[5,~j  
丛书名: 国外信息科学与技术优秀图书系列 iHeu<3O  
平装: 561页 )WsR 8tk  
语种： 简体中文 =5
5V<VI  
开本: 16 }fL ]}&  
ISBN: 9787030473929, 7030473922 `.3{  
条形码: 9787030473929 4"#F=f0  
商品尺寸: 25.6 x 18.6 x 2.8 cm &Xi]0\M)  
商品重量: 1 Kg ";TqYk=-  
品牌: 科学出版社 ^f9>tI{  
ASIN: B01DKW70FW 5h6-aQU[  
t|C?=:_  
6\USeZh  
g=jB'h?  
目录 t(1gJZs>kX  
序 zICAV -&  
译者序 ??z&w`Yy,  
中译本序 8=u88?Bh  
第四版前言 ]l^"A~va  
符号和缩写 >=/DCQ$  
第1章引言 <`Qbb=*  
1.1早期的历史 *1h@Jb34  
1.2光学薄膜 Kl]l[!c7$  
参考文献 f('##pND@  
第2章基本理论 #rQT)n  
2.1麦克斯韦方程和平面电磁波 ~h$ H@&5  
2.1.1坡印亭矢量 K0\`0E
^,  
2.2简单边界 *iV#_  
2.2.1垂直入射 9Us'Q{CD   
2.2.2倾斜入射 GW2v&Ul7(  
2.2.3倾斜入射的光学导纳 .&.L@C
RH  
2.2.4吸收介质中的垂直入射 Iv/h1j> H  
2.25吸收介质中的倾斜入射 ekd;sEO  
2.3单层薄膜的反射率 f{U,kCv  
2.4多层膜系的反射率 Ict+|<f  
2.5反射率、透射率和吸收率 7-mo\jw<  
2.6单位 ;}'Z2gZB  
2.7重要结果总结 j]m|}n  
2.8可能透射率 ~*L
@|?  
2.9膜系透射率定理 KN~Repcz@  
2.10相干性 ]W7&ZpF  
2.11两个或多个表面的非相干反射 jF-0fK;)*  
参考文献 3 <Zo{;  
第3章光学薄膜计算与设计的一些方法 gB0Q0d3\G,  
3.1λ／4和λ／2光学厚度 S*%:ID|/C2  
3.2导纳轨迹 0>:`|IGnT2  
3.3导纳图中的电场和损耗 +1Pu29B0  
3.4矢量法 7e /Kh)5G  
3.5赫平折射率 0OBwe6*  
3.6膜系计算的迭代方法 ~zDFL15w  
3.7多层膜设计的史密斯方法 a>S
-50  
3.8史密斯圆图 Vk%W4P"l  
3.9反射率圆图 +'aG{/J  
参考文献 L08"8\  
第4章减反射膜 9`!#5i)VU8  
4.1高折射率基底上的减反射膜 lr$,=P`  
4.1.1单层减反射膜 2Z
Ky7p0/  
4.1.2双层减反射膜 TSj)XU {W  
4.1.3多层膜 y2Vc[o(NP  
4.2低折射率基底上的减反射膜 A/.z. K  
4.2.1单层减反射膜 be'&tsZ9  
4.2.2双层减反射膜 4g?qKoc i  
4.2.3多层减反射膜 `tm(3pJ  
4.3等效膜层 >HRLL\u9  
4.4具有两个零点的减反射膜 QY$4D;M`g6  
4.5可见光及红外区的减反射膜 P7!gUxcv9Y  
4.6非均匀层 ~
TjTd  
4.7更多信息 u43-\=1$T  
参考文献 !%QbE[Kl>  
第5章中性反射镜和分光镜 cyWDtq  
5.1高反射薄膜 \8`^QgV`@  
51.1金属膜反射镜 I bE Nq  
5.1.2金属膜的保护 :U-yO 9!j  
5.1.3总系统性能与增加金属膜反射率 )T@+"Pw8t  
5.1.4紫外反射膜 M B,Z4 ^  
5.2中性分光镜 }t
edh  
5.2.1金属膜分光镜 WiFZY*iu5  
5.2.2介质膜分光镜 _RX*Ps=  
5.3中性滤光片 _? u} Jy_  
参考文献 HK<oNr.d52  
第6章多层高反射膜 ; .hTfxE0  
6.1法布里—珀罗干涉仪 #M92=IH  
6.2多层介质膜 [bd?$qi  
6.2.1宽高反射区的多层全介质膜 O9Yk5b;  
6.22薄膜均匀性的要求 }:+P{  
6.3损耗 #b{;)C fL  
参考文献 g=s2t"&  
第7章截止滤光片 op
|x~Thf  
7.1薄膜型吸收滤光片 ;MjOs&1f0K  
7.2干涉截止滤光片 =[o/D0-Kn  
7.2.1λ／4多层膜 [q!)Y:|u_>  
7.2.2对称多层膜和赫平折射率 M:w]g`LKl  
7.2.3性能计算 %`:+A?zL  
参考文献 UFUm-~x`  
第8章带通滤光片 pfg>H  
8.1宽带滤光片 hj[sxC>z5  
8.2窄带滤光片 PSa"u5O  
8.21金属—介质单腔滤光片 qFjnuQ,w  
8.2.2全介质单腔滤光片 ="]y^&(L(  
8.2.3固体标准具滤光片 :N>s#{+"3  
8.2.4入射角变化的影响 IF|%.%I$!U  
8.2.5边带阻隔 m`/!7wQs  
8.3多腔滤光片 !_h<w?)  
8.3.1Thelen分析法 YQ5d!a.  
8.4多腔滤光片更高的性能 fhe%5#3  
8.4.1倾斜的影响 U KdCG.E9^  
8.4.2多腔滤光片的损耗 JC4Z^/\.  
8.4.3补充材料 E)F"!56lV  
8.5相位色散滤光片 ,T7(!)dR  
8.6多腔金属—介质滤光片 SL>0_
 
8.6.1诱导透射滤光片 jVdB- y/r  
8.6.2滤光片设计实例 U`ELd:  
8.7滤光片的实测性能 !,PoH  
参考文献 7 *HBb-  
第9章倾斜入射薄膜 z>W'Ra6  
9.1修正导纳和倾斜导纳图 5[$jrG\!  
9.2导纳图的应用 )UG<KcdI  
9.3偏振器 ,?s:s&4  
9.3.1布儒斯特角偏振分束器 )L:p.E  
9.3.2偏振片 pc<A ,?  
933偏振分光棱镜 h`/1JjP  
9.4无偏振薄膜 04R-}  
9.4.1中等入射角的截止滤光片 u\|Ys  
9.4.2大入射角时的反射膜 xGymQ|y84  
9.4.3大入射角时的截止滤光片 CT#N9  
9.5减反射膜 *7 >K"j  
9.5.1仅p偏振的情形 > v ]-B"Y  
9.5.2仅s偏振的情形 lDhuL;9e  
9.5.3s偏振和p偏振同时存在的情形 L\X2Olfz1  
9.6相位延迟器 Y/< ],1U  
9.6.1椭圆偏光参数和相对相位延迟 HCKj8-*  
9.6.2多个表面镀膜的椭圆偏光参数和相对相位延迟 kc70HrG  
9.6.3相位延迟器 v"G)G)*z  
9.6.4简单的相位延迟器 1\+d 5Q0  
9.6.5单波长多层膜相位延迟器 "+J[7p}`@  
9.6.6多波长多层膜相位延迟器 $WK~|+"{>  
9.7光学隧穿滤光片 NKb,>TO  
参考文献 Ie8jBf -  
第10章光学薄膜色度学 mmrz:_  
10.1颜色的定义 8?
&u5  
10.21964补充标准色度观察者 Smlf9h&  
10.3同色异谱 Lj03Mx.2S  
10.4其他颜色空间 Se-n#  
10.5色调和色度 t@\op}Z-M  
10.6亮度和最佳刺激 @^kt[$X;  
10.7彩色条纹 $N)b6(}F10  
参考文献 96 !e:TU  
第11章镀膜工艺及薄膜材料 3F6=/  
11.1薄膜的镀制 A&6qt  
11.1.1热蒸发 }~`l!ApD  
11.1.2高能沉积过程 h*\/{$y  
11.1.3其他沉积过程 ZJ|'$=lR  
11.1.4烘烤 " tUF,G(<  
11.2光学性质的测量 IQ"9#{o  
11.3机械特性的测量 ON<X1eU  
11.4毒性 _l;$<]re\k  
11.5常见材料的特性 JgY#W1>  
参考文献 L@HWm;aN  
第12章影响薄膜性能的因素  @Iy&Qo  
12.1微观结构和薄膜的性能 csay\Q{  
12.2对污染物的敏感度 11>K\"K}  
参考文献 h\i>4^]X.  
第13章膜厚均匀性与厚度监控 N/&t)7  
13.1均匀性 ESAFsJ$r;  
13.1.1平面夹具 R3=]Av46  
13.1.2球面夹具 VD
P \E<3"  
13.1.3旋转基底 WMLsKoby  
13.1.4掩膜的用途 i+HHOT  
13.2基底准备 "~&d=f0m  
13.3膜层厚度监控和控制 mlD 1 o  
13.3.1光学监控技术 o7W
1sD1O  
13.3.2石英晶体监控 I2PFJXp_]n  
13.33通过沉积时间监控 Zr.6J*&!  
13.4厚度容差 Tp?l;DU  
参考文献 A(Ss:7({  
第14章滤光片规格与环境影响 lP:ll])p2  
14.1光学特性 12,,gwh  
14.1.1性能指标 z;VabOr^  
14.1.2制作指标 =whYo?cE(  
14.1.3测试指标 ;<=B I!  
14.2物理性质 !:^lTvYWZH  
14.2.1耐磨性 b];p/V# <  
14.2.2黏附性 Ce0YO~I  
14.2.3耐环境性 7#BUd/  
参考文献 (NBq!;_2,x  
第15章系统考虑：滤光片和薄膜的应用 3'zm)SXJ  
15.1干涉滤光片的能量获取 fm
hqm"  
15.2天文学中的窄带滤光片 PV_q=70%T  
15.3大气温度检测 UoiXIf_Q  
15.4光栅光谱仪中的级次选择滤光片 E5J2=xVW#  
15.5眩光抑制滤光片和镀膜 Q{0!N8']"  
15.6包含金属层的薄膜 h^}r$k_n  
15.6.1用于肖特基势垒光电二极管的电极薄膜 igD,|YSK`z  
15.6.2用于太阳能光热转换的光谱选择薄膜 \Y{^Q7!>:8  
15.6.3热反射金属—介质膜 |4@su"OA  
参考文献 vF,iHzv  
第16章其他主题 -}Iw!p#O3  
16.1皱褶滤光片 Cd"iaiTD0  
16.2超快薄膜 U- a+LS  
16.3自动设计方法 3bi,9 >%  
16.4光学薄膜中的增益 b&V}&9'[M;  
16.4.1倾斜入射 e5 ?;{H  
16.5光子晶体 wA#w]8SM  
16.5.1什么是光子晶体 `IQ
76Xl  
16.5.2二维光子晶体 NJ;D Qv  
16.5.3一维光子晶体 uzx?U3.\  
参考文献 0Lo)Ni^"  
第17章介质薄膜材料的特性 oe
8six
Z[  
参考文献 {|kEGq~aE  
参考书目 *)jhhw=34  
中英文对照表 -W:te7  
f/Lyc=-]