本书作者是国际
镀膜界的权威专家。本书
系统论述了
薄膜光学滤波器的基本理论及相关技术,既介绍了最新成果,又提供了大量详实的图表及数据;既有系统的理论分析、数据计算结果,又有实用器件的结构
参数。内容具体包括增透膜、中性平面镜和分束镜、复合高反射率涂层、边缘滤波器、带通滤波器、斜涂层、光学涂层的颜色、膜的均匀度和厚度监测、滤波器的规格和环境影响、系统考虑、滤波器和涂层的应用等。
se_zCS4Y _0F6mg n zJ9ZqC] 出版社: 科学出版社; 第1版 (2016年3月1日)
!W$3p'8Tu 外文书名: Thin-Film Optical Filters(Fourth Edition)
?p5RSt 丛书名: 国外信息科学与技术优秀图书系列
7k6rhf7H 平装: 561页
tBBN62^X 语种: 简体中文
{yyg=AMz 开本: 16
o\]e}+1[o ISBN: 9787030473929, 7030473922
<O$'3_S"D 条形码: 9787030473929
aic6,>\!' 商品尺寸: 25.6 x 18.6 x 2.8 cm
81W})q8 商品重量: 1 Kg
#bu`W!p} 品牌: 科学出版社
Wr)%C ASIN: B01DKW70FW
?5mVC]W?] =|3L'cDC
Q X@&~ FA{I
S0 目录
d+T]EpQJ* 序
<Mc:Cg8> 译者序
$Z28nPd/ 中译本序
A#1y>k 第四版前言
/LSiDys 符号和缩写
!hH6!G 第1章引言
@oRYQ|.R 1.1早期的历史
q/OraPAB 1.2光学薄膜
q=?"0i&V 参考文献
D'nV
&m 第2章基本理论
b}"/K$`Fd 2.1麦克斯韦方程和平面电磁波
[q.W!l4E 2.1.1坡印亭矢量
]Vwky]d 2.2简单边界
s?Q`#qD 2.2.1垂直入射
E #ys-t 42 2.2.2倾斜入射
RM<\bZPc 2.2.3倾斜入射的光学导纳
[/#n+sz.A 2.2.4吸收介质中的垂直入射
aRG[F*BY 2.25吸收介质中的倾斜入射
}4
$EN 2.3单层薄膜的反射率
{iQ<`,)Y 2.4多层膜系的反射率
Y6N+,FAk+J 2.5反射率、透射率和吸收率
<K\F/`c 2.6单位
8=nm`7(] 2.7重要结果总结
)i!)Tv 2.8可能透射率
B!tte) 2.9膜系透射率定理
4|+
|L_ 2.10相干性
;,4J:zvZdQ 2.11两个或多个表面的非相干反射
Osy5|Ts 参考文献
))KsQJ"V 第3章光学薄膜计算与设计的一些方法
Cza)s 3.1λ/4和λ/2光学厚度
y mE`V 3.2导纳轨迹
Ck^= H 3.3导纳图中的电场和损耗
hXrvb[6 3.4矢量法
L0_=R;.< 3.5赫平折射率
LB{a&I LG 3.6膜系计算的迭代方法
pH~JPNng 3.7多层膜设计的史密斯方法
PRah?|*0s 3.8史密斯圆图
EEo+# 3.9反射率圆图
x<3vA|o 参考文献
l|up3A3) 第4章减反射膜
h">X!I 4.1高折射率基底上的减反射膜
:<(<tz7dj 4.1.1单层减反射膜
'+QgZ>q" 4.1.2双层减反射膜
v*^2[pf 4.1.3多层膜
rFK
* 4.2低折射率基底上的减反射膜
k m|wB4 4.2.1单层减反射膜
`fV$'u 4.2.2双层减反射膜
0,3 ':Df 4.2.3多层减反射膜
.z4FuG,R 4.3等效膜层
*oWzH_ 4.4具有两个零点的减反射膜
Ce)Wvuh 4.5可见光及红外区的减反射膜
v}mmY>M% 4.6非均匀层
Qv=Z 4.7更多信息
vSL{WT]m 参考文献
a|53E<5X 第5章中性反射镜和分光镜
VsMN i#? 5.1高反射薄膜
ZT8j9zs 51.1金属膜反射镜
A3$b_i @P 5.1.2金属膜的保护
1e+?O7/ 5.1.3总系统性能与增加金属膜反射率
lKwcT!Q4 5.1.4紫外反射膜
b>(lF%M 5.2中性分光镜
;7A,'y4f 5.2.1金属膜分光镜
[aC9vEso! 5.2.2介质膜分光镜
&tOD 5.3中性滤光片
NNdS:( 参考文献
dEp=;b s 第6章多层高反射膜
vJ'
93h 6.1法布里—珀罗干涉仪
NEH$&%OV? 6.2多层介质膜
xd.C&Dx5 6.2.1宽高反射区的多层全介质膜
/Rz,2jfRx' 6.22薄膜均匀性的要求
tSYnc7 6.3损耗
p[GyQ2k) 参考文献
Dw[Q,SE 第7章截止滤光片
9|m L 7.1薄膜型吸收滤光片
Y|~>(
7.2干涉截止滤光片
D-!%L<< 7.2.1λ/4多层膜
%G&v@R 7.2.2对称多层膜和赫平折射率
F&~vD 7.2.3性能计算
el%Qxak`" 参考文献
)1,&YJM*6l 第8章带通滤光片
I$LO0avvH2 8.1宽带滤光片
!;a<E: 8.2窄带滤光片
ATHz~a 8.21金属—介质单腔滤光片
O5?Eb 8.2.2全介质单腔滤光片
|{K:.x#^ 8.2.3固体标准具滤光片
*)1z-rH` 8.2.4入射角变化的影响
iE`aGoA 8.2.5边带阻隔
"lZ<bG
8.3多腔滤光片
n58jB:XR( 8.3.1Thelen分析法
ZB%~> 8.4多腔滤光片更高的性能
g <o ;\\ 8.4.1倾斜的影响
~] 2R+ 8.4.2多腔滤光片的损耗
( -@> 8.4.3补充
材料 ~dLZ[6Z 8.5相位色散滤光片
3\G=J 8.6多腔金属—介质滤光片
AlxS?f2w 8.6.1诱导透射滤光片
{@%(0d{n} 8.6.2滤光片设计实例
pAuwSn#i 8.7滤光片的实测性能
sCl,]g0{ 参考文献
t@n (a 第9章倾斜入射薄膜
eV0S:mit 9.1修正导纳和倾斜导纳图
+GS=zNw# 9.2导纳图的应用
xn8B|axB 9.3偏振器
R2`g?5v 9.3.1布儒斯特角偏振分束器
S/;Y4o 9.3.2偏振片
1n"X?K5;A 933偏振分光棱镜
$H} Mn"G 9.4无偏振薄膜
-pu\p-Z 9.4.1中等入射角的截止滤光片
ZB&Uhi 9.4.2大入射角时的反射膜
| hM)e*" 9.4.3大入射角时的截止滤光片
KOx#LGz 9.5减反射膜
BkfBFUDQ 9.5.1仅p偏振的情形
:nUsC+oBS 9.5.2仅s偏振的情形
]:s|.C%q I 9.5.3s偏振和p偏振同时存在的情形
Nk4_! 9.6相位延迟器
|plo65 9.6.1椭圆偏光参数和相对相位延迟
I+t38un% 9.6.2多个表面镀膜的椭圆偏光参数和相对相位延迟
,?6m"ov4( 9.6.3相位延迟器
9m4rNvb 9.6.4简单的相位延迟器
Dt.Wb&V_w 9.6.5单
波长多层膜相位延迟器
q?4uH;h:^G 9.6.6多波长多层膜相位延迟器
pNFIO
t:( 9.7光学隧穿滤光片
<1BK5%? 参考文献
Z-a(3& 第10章光学薄膜色度学
=_J<thp 10.1颜色的定义
vP?S0>gh 10.21964补充标准色度观察者
Yj\yO(o/ 10.3同色异谱
m4>oE|\ 10.4其他颜色空间
8]\h^k4f 10.5色调和色度
!
hr@{CD 10.6亮度和最佳刺激
_|:bac8pL 10.7彩色条纹
nV*sdSt 参考文献
.G~5F- 8' 第11章镀膜工艺及薄膜材料
@I6 A9do 11.1薄膜的镀制
p|V1Gh< 11.1.1热蒸发
{OrE1WHB 11.1.2高能沉积过程
c[lob{, 11.1.3其他沉积过程
em!R9J. 11.1.4烘烤
^X%4@,AE 11.2光学性质的测量
'a?.X _t 11.3机械特性的测量
(1j$*?iGA 11.4毒性
O>5 u5n 11.5常见材料的特性
P.Z<b:V! 参考文献
4(GgaQFO? 第12章影响薄膜性能的因素
Q8cPKDB 12.1微观结构和薄膜的性能
an[~%vxw} 12.2对污染物的敏感度
72vGfT2HtZ 参考文献
1|w:xG^ 第13章膜厚均匀性与厚度监控
'OW"*b 13.1均匀性
%P,^}h7 13.1.1平面夹具
$!!=fFX*y 13.1.2球面夹具
}QW~.>` 13.1.3旋转基底
bvS\P!m\c 13.1.4掩膜的用途
.hNw1~Fj 13.2基底准备
B2qq C-hw? 13.3膜层厚度监控和控制
6x,=SW@4 13.3.1光学监控技术
W(lKR_pF 13.3.2石英晶体监控
DK_v{R 13.33通过沉积时间监控
x0$:"68PW 13.4厚度容差
DLVs>?Y 参考文献
&\`a5[ 第14章滤光片规格与环境影响
L9?/ -@M 14.1光学特性
SH$cn,3F8 14.1.1性能指标
0+y~RTAVB 14.1.2制作指标
tF g'RV{ 14.1.3测试指标
^_h7!=W 14.2物理性质
Zi@+T 14.2.1耐磨性
NV(4wlh)y 14.2.2黏附性
~2DV{dyj 14.2.3耐环境性
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