先进光学制造工程与技术原理

《先进光学制造工程与技术原理》(作者程灏波、谭汉元)共11章。第1章介绍了光学仪器及光电仪器、先进光学制造技术的发展等内容。第2章主要介绍了光学零件的基础理论，包括数学描述、零件材料、抛光机理、质量评价等内容。第3章至第6章详细介绍了计算机控制小工具头技术、磁流变抛光技术、电流变技术、磁射流技术等光学非球面制造技术。第7章综述了其他先进光学制造新技术。第8章至第11章介绍了光学非球面检测技术，包括轮廓检测技术、干涉检测技术、子孔径拼接技术、亚表面损伤检测技术。 本书适用于航空航天、天文和信息技术等领域的从事光学制造检测工作的工程技术人员，以及大专院校相关专业的学生和科研人员。 {j wv+6]U  
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目录 L$ T2 bul  
第1章 先进光学制造工程概述 c&c  
§1．1 光学及光电仪器概述 RXXHg  
§1．2 光学制造技术概述 4 ]oe`yx  
§1．3 先进光学制造的发展趋势 X@~/.H5  
第2章 光学零件及其基础理论 1jC85^1Taq  
§2．1 光学零件概述 )<x9t@$  
§2．2 光学零件的材料 |~9jO/&r  
§2．3 非球面光学零件基础理论 2CC"Z  
§2．4 抛光机理学说 M+t)#O4  
§2．5 光学零件质量评价 ?q!4REM  
参考文献 `I7s|9-=  
第3章 计算机控制小工具技术 Au2^ T1F  
§3．1 计算机控制小工具技术发展概述 dsIbr"m  
§3．2 计算机控制小工具加工原理及数学模型 MTYV~S4/  
§3．3 计算机控制小工具设计与在线测量系统 F}Zg3#  
§3．4 计算机控制小工具加工工艺研究 U&3!=|j  
§3．5 固着磨料在计算机控制小工具技术中的应用  (?Ku-k  
参考文献 H{cOkuy  
第4章 磁流变抛光技术 'iMzp]V;  
§4．1 磁流变抛光技术概述 ! fk W;|  
§4．2 磁流变效应 zC*FeqFL<  
§4．3 磁流变抛光工具设计及分析 l0&Fm:))k  
§4．4 磁路设计及磁性微粒场致微观结构 A rE~6X  
§4．5 磁流变抛光去除函数模型 WsTIdr36x  
§4．6磁流变抛光技术工艺规律 C:1(<1K  
参考文献 veDv14  
第5章 电流变抛光技术 U&"L9o`2  
§5．1 电流变效应 DN^+"_:TB  
§5．2 电流变抛光液 u^Cls!C  
§5．3 电流变抛光机理及模型 MJX ny4n  
§5．4 电流变抛光工具设计与研究 Gza=
 0  
§5．5 工艺实验结果 F6vsU:TfB  
参考文献 8jCho  
第6章 磁射流抛光技术 %@QxU-k_  
§6．1 磁射流技术概述 :{<|,3oNdR  
§6．2 流体动力学基础 .BxI~d^  
§6．3 磁射流工作原理 #8jiz+1 _  
§6．4 磁射流抛光去除函数模型分析与特性 i,^-9  
§6．5 磁射流抛光工具设计 zd$'8/Cq  
§6．6 磁射流抛光工艺研究 2dz)rjdO,  
§6．7 磁射流加工实例 i~x]!!  
参考文献 k3&68+  
第7章 其他先进光学加工技术 t|>P9lX@  
§7．1 电磁流变抛光技术 G5hRx@vfrL  
§7．2 应力盘研抛技术 dpz@T>MS=  
§7．3 离子束抛光技术 B}qG-}(V  
§7．4 等离子体辅助抛光 ~{DJ,(N"n  
§7．5 应力变形法 Dp['U
  
§7．6 光学玻璃非球面透镜模压成形技术 7 \xCNOKh  
§7．7 光学塑料非球面零件注射成形技术 Q'U!  
§7．8 非球面真空镀膜法 [( xPX  
§7．9 非球面复制成形法 cvw1
7j  
参考文献 pI f6RwH}%  
第8章 光学非球面轮廓测量技术 i:Y5aZc/Ds  
§8．1 非球面轮廓测量技术概述 >~d'i
 
§8．2 数据处理 !ak760*A  
§8．3 轮廓测量精度分析与误差补偿 7 @\i5  
§8．4 非球面检测路径 uznqq}  
§8．5 点云曲率和法矢计算方法分析 -75mgOj.#  
§8．6 非球面轮廓测量实例 w[a(I}x  
参考文献 )E9c6'd  
第9章 非球面干涉测量技术 'xd8rN%T  
§9．1 光学非球面检测方法 h_-4Q"fb(  
§9．2 干涉检测波前拟合技术 )fo0YpE^|  
§9．3 非球面补偿检测技术 h5P ]`r  
§9．4 计算机辅助检测 "E<+idoz  
§9．5 离轴非球面检测校正技术 idHI)6!  
§9．6 大口径平面检测技术 nK< v
  
参考文献 ]@y%j'e  
第10章 子孔径拼接干涉检测技术 0fj C>AS  
§10．1 概述 y?cN  
§10．2 基础理论 ftmPdha%+  
§10．3 子孔径划分方法 1N65 M=)  
§10．4 子孔径拼接测量实验 IqlCl>_j  
参考文献 /IcGJ&;  
第11章 亚表面损伤检测技术 _{):w~zi  
§11．1 亚表面损伤概述 xA^E+f:W_  
§11．2 亚表面损伤产生机理 d&G]k!|\  
§11．3 亚表面损伤检测技术 z\FBN=54z  
§11．4 磁流变斜面抛光法测量亚表面损伤深度 _KloX{a  
参考文献 d@^%fVhG  
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