上海光机所在薄膜损伤机制研究中取得新进展
高功率激光系统的输出水平与薄膜元件的抗激光损伤能力密切相关。薄膜元件的抗激光(纳秒脉冲激光)损伤能力主要受限于薄膜中各种类型的缺陷,缺陷包括来源于基底、膜层以及镀膜后各个环节的缺陷。随着镀膜工艺的进步,起源于膜层中的缺陷在很大程度上得到了有效抑制。起源于基底的缺陷在薄膜元件激光诱导损伤过程中所起的作用日益突出,已成为制约Nd:YAG激光基频波长薄膜元件损伤阈值提升的关键因素。然而,该类缺陷对激光薄膜影响程度的科研报道较少,且大部分处于定性研究,基底缺陷影响薄膜元件损伤阈值的机制尚未明朗。基底缺陷包括吸收性杂质缺陷、表面划痕和坑点等结构性缺陷,中国科学院上海光学精密机械研究所中科院强激光材料重点实验室在国际光学期刊Opt. Lett.上发表原创性论文[Opt. Lett. 40, 3731-3734 (2015)]、[Opt. Lett. 40, 1330-1333 (2015)],提出利用飞秒激光加工坑点,揭示起源于基底表面的结构性缺陷诱导薄膜元件激光损伤的机制。 上海光机所中科院强激光材料重点实验室借助飞秒激光微加工平台在石英基底上制作了特定大小的坑点缺陷(长度:~7um,宽度:~3um,深度:~1um)。对沉积在有飞秒激光加工坑点和常规基底上的减反射膜和高反射膜的激光诱导损伤行为进行了研究与对比分析。 |








