2005年的物理诺贝尔奖颁给了Menlo Systems的创始人之一Theodor W. H渀猀挀栀谀J.Hall,以表彰他们发明频率梳,
光学频率梳已经成为继超短脉冲
激光问世之后激光技术领域又一重大突破。在该领域内,开展开创性工作的两位科学家J. Hall和T.W.H?nsch于2005年获得了诺贝尔奖。
原理上,光学频率梳在频域上表现为具有相等频率间隔的光学频率序列,在时域上表现为具有飞秒量级时间宽度的电磁场振荡包络,其光学频率序列的频谱宽度与电磁场振荡慢变包络的时间宽度满足傅里叶变换关系。超短脉冲的这种在时域和频域上的分布特性就好似我们日常所用的梳子,形象化的称之光学波段的频率梳,简称"光梳"。光梳相当于一个光学频率综合发生器,是迄今为止最有效的进行绝对光学频率测量的工具,可将铯原子微波频标与光频
标准确而简单的联系起来,为发展高分辨率、高精度、高准确性的频率标准提供了载体,也为精密
光谱、天文物理、
量子操控等科学研究方向提供了较为理想的研究工具,逐渐被人们运用于光学频率精密测量、原子离子跃迁能级的测量、远程信号时钟同步与卫星导航等领域中。
/%A*aGyIc ]- QA'Lq 这种光学频率梳技术及其稳定性已经获得了几个国际
专利(如欧盟专利EP 1161782和美国专利6,785,303B1)。Menlo Systems公司具有这些专利的独家所有权。
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香港弗锐达科技有限公司:http://www.fredorscience.com/html/product/laser/20151002/177.html hODWB&b y7Df_|Z xe&i^+i 掺铒光学频率合成器
G{%L B}2 P3 ^Y"Pv? 特性
!ff&W1@ Czu\RXJR - 包含M-Comb振荡器,放大器和f:2f干涉仪
- 包括电子控制塔:控制单元,锁相环,显示器,和数据采集
- 用于近红外(NIR)或可见光谱范围的扩展包
[RTs[3E^ FC1500光学频率合成器是一种紧凑、灵活的基于
光纤的飞秒频率梳
系统。通过用于可见光谱范围的扩展包,该系统提供一个稳定的光学频率梳,可用于可见和近红外光谱范围的频率计量。我们提供大量的可选型号,使我们可以根据用户特定的计量解决方案定制该多功能系统。
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6\ ^% ChXq4] Specifications
7g}w+p> _[ZO p ~ AdvancedFeatures and Benefits
BbS4m O55 xS+3^k - highrepetition rate
- fullyfiber-coupled interferometer
- operationalrange from 500 nm to 2100 nm
- extendedoffset frequency tuning range
- turnkeymetrology system, fully automated with comb control and data acquisitionsoftware
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o t"/q]G5 Applications
qR+!l( `XEr(e9 -
- Dimensional Metrology
- Optical Clocks
- FTIR Spectroscopy
- Calibration of Lasers
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** G9H ><HE;cVg? 掺镱光学频率合成器
K1!j fp LW_f >%8KK|V{
=D#bb<o Lrq.Ab# v9O~@v{= 应用
_&ks1cw j+v=Ul|l - 尺寸计量
- 光学时钟
- 高分辨率光谱
- 低噪声微波合成
- 绝对距离测量
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8k1Dj1@0z 飞秒光学频率梳已为光频率的测量带来了一场革命。这种方法大大提高和简化了尺寸计量,并开辟了物理学的新方向。
^iw'^6~ FC1000-250已前所未有的精度(高达14位数字)和稳定性测量光学频率。它基于一个锁模掺镱振荡器,提供500,000条250MHz等间距的精密激光频率线。输出通过光谱展宽生成倍频程光谱。偏移频率拍由一个稳定坚固的f:2f干涉仪产生。
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_ 5?$ |T)6yDL Specifications
2Gaa(rJ5o h6`6tk AdvancedFeatures and Benefits
@xYlS5{ 5>N2:9We - highrepetition rate
- fullyfiber-coupled interferometer
- operationalrange from 530 nm to 1080 nm
- extendedoffset frequency tuning range
- turnkeymetrology system, fully automated with comb control and data acquisitionsoftware
s'J:f$flS tQYM&6g Applications
+<3XJ7D ~d*(=G - Dimensional Metrology
- Spectrometer Calibration, Astronomy
- Calibration of Lasers
- High Resolution Spectroscopy
!.(P~j][ /9pwZ%:< 中红外频率梳
@>>~CZ`l !AfHk|
Z+. '> oij}'|/Jc Specifications
3r."j2$Hs0 q}#6e]t AdvancedFeatures and Benefits
Jk=I^%~ e 5*hE - spectralrange 3.1-3.4 洀 and 6.5-7.8 洀 (extended range optional)
- highrepetition rate of either 100 or 250 MHz
- highoutput power of >120 mW at 3 洀嬀/font]
- spectralbandwidth of > 200 nm
- turnkeymetrology system, fully automated with comb control and data acquisitionsoftware
1--C~IjJ+ >!bJslWA Applications
h2J/c#Qvh q0R -7O( -
- Dimensional Metrology
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