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Intelliwave 干涉条纹分析仿真软件 $~Tf L{$
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Intelliwave是一种功能强大的干涉图形攫取和分析的一套软件，通常用于量测许多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括镜子、透镜、半导体芯片、和其它许多反射或不反射的表面。为了推断镜片表面外形，Intelliwave需要制造一个光学相位差来获得干涉图形，因为干涉条纹图是干涉仪中的测试光及参考光的光程差而形成，藉着干涉图形的处理，主要在于鉴定待测光学仪器的表面外型。Intelliwave 结合了攫取、输入、分析、以及许多实际干涉图形文档等等特性，更提供了强大、快速、灵活性、容易使用、还有广泛数据信息的优点。 ^
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Intelliwave 应用的领域： < % /:w/
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高功率激光的外型和反射特性的量测 XX:q|?6_ 4
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极温度（ Extreme Temperature）的应用 ] 'E}
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天文上的应用 : 天文镜片、天文望远镜 * <?XTs<
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光学量测 8`DO[Z
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对于非球状光学结构有高分辨率 I=K[SY,]9
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在半导体上的应用 fls#LcI9>6
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全像摄影 s7vPI
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光学纟统的动态控制 uj ow?$ &
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Cutting Edge Research and Development U~Xf= f_Q$
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Mom and Pop Application ,v|CombIc.
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Intelliwave 功能说明： Bmmb
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硬件独立 { _-wG3f|
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Intelliwave可以对许多种类的光源的干涉图形作处理，包括摄影机、扫描仪，对于一般图象文件和工业科学的文件系统也可适用，因为Intelliwave的硬件独立性，它可以利用不同形式的干涉仪攫取和分析任何波长的干涉图形，这些干涉仪包括了Twyman-Green、Michelson、Fizeau、simultaneous Phase Shifting和Holographic Speckle interferometers。 "h QV9 [2\
时间（Temporal）和空间（Spatial）的相位测量干涉仪 M9h<}mh\
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相位测量干涉仪（ PMI ）可以直接量测波前相位的测试光及参考光光程差， Intelliwave 有支持 PMI ，并且利用干涉仪量测波前相位，这在现今的技术中应用的很广泛。相位测量干涉仪可以分成两个部分： 多个连续相移的干涉图及单一干涉图， 第一个部分使用方法最著名的是 TPMI ；第二个部分使用方法最著名的是 SPMI ，而 Intelliwave 有支持这些方法。 vT&j{2U7XW
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Fringe Tracing uSH> $;a
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Fringe Tracing是将单一的干涉条纹图最大以及最小的轮廓把它描绘出来，并分配轮廓级别于每一边缘（ fringe ），而根据轮廓线使用差补法去生成surface map 。 2B5A!? ~>
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分析特性 Al=(sHc'
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Intelliwave提供一套完整的分析工具，包括统计信息、像差、绕射分析、图象加工、以及 几何图象转换。 它支持了多样化干涉图形的处理技术，也可把干涉图转换成光学相位差(OPD)或表面图（surface map），Intelliwave还具有处理实时信息及对有杂讯的信息作有效处理。 jC#`PA3m=
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自动化和质量监控 `8mD7xsg$
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Intelliwave具有更强大的自动化及品管功能，有自动反覆测量或自动化分析的功能。此外，所有参数可以作统计且可针对使用者需要做像差的自动质量测试。?lug-In Architecture and ActiveX interfaces使用者可以自己制作程序和Intelliwave作连结，许多ActiveX软件已经可以跟Intelliwave作连结，包括了：LabVIEW、Research Systems IDL、Math Work、 Matlab和Microsoft Excel，透过这些软件的相互连紧，干涉仪信息可以在这些程序中作双项的转换。
