偏光显微镜下的压实作用与硅质胶结 =sW(2Im
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在偏光显微镜下,主要是由石英颗粒之间的接触关系赛判断压实作用程度的。颗粒接触紧密,压实作用强,颗粒是分散的,表明未经压实作用。在成岩过程中,有很多因家对正确判断压实作用起干扰作用,在颗粒接触关系上,有很多假象,特别是石英的次生加大,即硅质胶结,对压实作用的真实性起到的千扰因素最大。 ceR zHq=
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在碎屑岩储层中,硅质胶结作用有时非常发育,它可以把岩石的孔隙及喉道部分或全部充填胶结,使孔隙空间遭受严重破坏。硅质胶结通常以石英的次生加大形式出现而向着孔隙增长,以具有枯土质膜或不具有枯土质膜的产状形成于颗位周围。硅质胶结非常发育时,会从外表上改变顺粒之间的关系,使分散的颗粒变得紧密接触,形成压溶作用的假象。 C_=WL(
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