[讨论]光控镀膜时，光控片及监控波长的使用方法 [复制链接]

我们一般是两层（我是新柯隆的） o\><e1P   o 0cc+  
先镀高折射率，再镀低折射率。 wKpb%3   v;NZ"1=_  
另外，监控波长的选择也很有讲究， - q(a~Ge   is_dPc  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。 ShlTMTgS   cVv4gQD\  
T.')XKP)1N   6vp8LNSW  
如果第一层镀低折射率，会影响准确度。

各位大神 b&V]|Z(  
宽波段时（近红外）监控波长如何设定

长江:我们一般是两层,光驰机器，先高折射 率，后低折射率 (2016-09-10 20:24)  'UG}E@G  

?;#3U5$v  
同是光驰机，也是监控两层

我们一般控制一个光控点控制两层，高折射率一层，低折射率一层 it|:P  

回头比例一般控制在5~95%

ouyuu:我们一般是两层（我是新柯隆的） Vk T3_f  
先镀高折射率，再镀低折射率。 {Vu:yh\<  
另外，监控波长的选择也很有讲究， a8$pc>2E  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。
....... (2014-04-04 15:06)  r{&"]'/X  

`"4EE}eQc
 
为什么第一层镀折射率会影响精准度?

第一层低折射率，常常为二氧化硅，因为其折射率跟监控片接近，光量变化不大，光控不容易判断准确。 ,/9|j*9H  
第一层用二氧化硅还是很普遍的，也有优点。 Vtri"G8 aB  

dcfcwdx:为什么第一层镀折射率会影响精准度?[表情] (2018-09-02 12:00)  ^9i^Ci9  

b;{C1aa>}  
膜林的专家已经讲的很清楚了。 "yumc5kt  
因为光控片的折射率和SIO2接近，直接在光控片上镀SIO2光量变化很小， &knnWm"  
放大后的光控波形上能看到有很多毛刺，这会影响光控电脑判断PEAK和截止点的精确度。 2_Qzc&"[ 4  
先镀高折再镀低折则能避免这种情况。 03PVbDq-  
B$G8,3,:  
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IP3-lru  

我司是用光馳 fjb2-K  
M\%{!Wzo8  
一個監控點=控制兩層(高、低折射率) `e bB+gI  
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高折射 start set 20 ；低折射 start set 80 tv0xfAV  
I6\3wU~).  
選擇監控波長，我會選過一轉折點後的30%左右。 ]kPco4  
3O.-'U1K  
另外注意的是 還要配合一開始校正光源的頻譜圖，避開一些不好的監控點

看评论有很大帮助，不然一头雾水