[讨论]冷却水对晶控的影响 [复制链接]

各位，冷却水对晶控有多大影响，讨论下。

嗯，装晶振片的 Holder 清洁，特别留意那个台阶，那里是接触晶振片电极的地方。另外，Holder与外部接触的双方也要清洁。 弹片周边稍清洁，让两极之间不短路。 XOS^&;  
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上海膜林科技有限公司的XDM-3K晶控仪有个申请了发明专利的晶振片损耗值，如果晶振片不良、安装不良或接触不良，反应在损耗值上就是增大。 很容易在安装时就能辨别出来。

是我写错了，先镀氧化硅后不会跳频。 t
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最经我把装晶控片的槽认真清理下，效果好一些。

liyungang:使用的药品是氧化钽和氧化硅，应该氧化硅和晶振片的附着力会更好吧，现在就是第一层镀氧化硅就会调频 (2014-02-20 17:37)  r2Q) Q  

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"第一层镀氧化硅就会调频。"  什么意思？ 前面你说先镀低折射率会好些。 AWmJm)  
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根据你的工艺来，实践中哪样更好就哪样吧。 k.F(*kh  
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附着力、应力 与工艺参数关系之间 理论分析比较难。  牵涉到膜裂和形变就更搞不定了。而后两者对晶振片的稳定性影响可能更大。

morningtech:镀金之前通常要打底，解决的是牢固度的问题。 wZUR  
你问题中可能的原因是二者附着牢固度不同，你的低折射率相当于打底了。
前面所谓有效的使用寿命，从晶振片的稳定性上来分的。 [
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....... (2014-02-19 17:04)  !J@pox-t  

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使用的药品是氧化钽和氧化硅，应该氧化硅和晶振片的附着力会更好吧，现在就是第一层镀氧化硅就会调频

liyungang:我们的设备就是怀疑水温有影响，厂家也说有这种可能。 9aC>gye!  
可有个奇怪的现象，我先镀低折射率材料再镀高折射率的材料，晶控显示的和稳定；但如果我先镀高折射率在镀低折射率交叉膜层的时候，显示的就不稳定，这该怎么解释、？ (2014-02-19 11:23)  {w^flizY  

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镀金之前通常要打底，解决的是牢固度的问题。 <s#}`R.#2  
你问题中可能的原因是二者附着牢固度不同，你的低折射率相当于打底了。 (<.1o_Q-LU  
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前面所谓有效的使用寿命，从晶振片的稳定性上来分的。 MJXm7<(  
稳定性，反应的是晶振片谐振时的能量损耗。损耗越大，稳定性越差。 q#Qr@Jf  
能量损耗牵涉到了膜层的结构及应力问题。附着不良，声波传递中损耗大，稳定性是会差一些。

morningtech:没有绝对的过低温度，大概20度以下吧，还跟工艺有关。 *<A;jP  
例如，镀金属，本身应力不成问题，低水温的影响就小些。 q3P3euK3  
镀应力大的介质膜，水温可适当高一点点。有人做过试验，将水温提高到30度以上，晶振片的可使用寿命延长一倍。 &'](T9kg=  
但正如前面所说，此时可能会带来较大的频率温度效应，导 .. (2014-02-19 09:47)  _fyw  

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我们的设备就是怀疑水温有影响，厂家也说有这种可能。 fVN}7PH7+  
可有个奇怪的现象，我先镀低折射率材料再镀高折射率的材料，晶控显示的和稳定；但如果我先镀高折射率在镀低折射率交叉膜层的时候，显示的就不稳定，这该怎么解释、？

sgh920:请问多少度以下是温度过低 (2014-02-18 12:58)  S3w?Zk3hO  

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没有绝对的过低温度，大概20度以下吧，还跟工艺有关。 F)5Aq H/p
 
例如，镀金属，本身应力不成问题，低水温的影响就小些。 *Kkw,qp/  
镀应力大的介质膜，水温可适当高一点点。有人做过试验，将水温提高到30度以上，晶振片的可使用寿命延长一倍。 oMe]dK  
但正如前面所说，此时可能会带来较大的频率温度效应，导致厚度准确度有所下降。 %Eh%mMb^  
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XDM-3K晶控仪本身在晶振片的可使用寿命上来说，相同条件下，比常见的3x0系列要长一倍以上。操作上简单得多就不用提了，呵呵。 mwCnP8:K  
XDM-3K对频率温度效应产生的厚度误差可进行补偿，这是申请了国家发明专利的。当然此补偿功能额外付费，对担负国家项目的高校和研究所另论，呵呵。 Y fA\#N0;3  
morningtech.cn，有对该晶控仪稍详细介绍。 kZ}u  

morningtech:对于AT切割晶振片，冷却水温度一般在20几度。 `$SEkYdt  
正常流量情况下， x<\D@X^  
冷却水温度过低， 则晶振片上膜层应力大，不利于镀厚膜。 @H%=%ZwpO  
冷却水温度过高，虽可镀膜厚增加，但晶振片温度高，导致进入较大的温度频率效应区域，厚度精度将下降。
....... (2014-02-13 18:59)  [Um4\QvUx  

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请问多少度以下是温度过低

对于AT切割晶振片，冷却水温度一般在20几度。 7$'mC9  
正常流量情况下， SslY]d]  
冷却水温度过低， 则晶振片上膜层应力大，不利于镀厚膜。 "SU-^z  
冷却水温度过高，虽可镀膜厚增加，但晶振片温度高，导致进入较大的温度频率效应区域，厚度精度将下降。 "I}Z2  
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上海膜林科技有限公司的XDM-3K晶控仪能实时监测晶振片的损耗，膜层应力对此值影响较大。 `$sY^EX  
另一方面，XDM-3K有额外付费的厚度补偿功能，正是为了补偿温度效应带来的厚度计算偏差。 %^5@z1d,