4D动态干涉仪
原理 "Un SZ[;t 4D动态干涉仪采用偏振光干涉原理，将传统相移干涉仪的时间域相移转换为空间域相移，并采用其独创的相位相关的
CCD技术，使得一个CCD帧频内就可实现全分辨的测量。其原理图如下图所示：
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q=i<vc w
光源发出的
激光经过PBS后分成偏振态不同的两束光, 其中S偏振光射向样品表面, P偏振光射向参考镜. 样品光和参考光被各自表面反射重新相会后, 由于偏振方向不同并不能发生干涉. 这样合在一起的光经过
光学系统成像, 透过一块掩模板（见下图）进入CCD.
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/G+gk0FW W2Z]?l;vQQ 掩模板（定向微偏振片阵列）的单元
结构与CCD的像元一一对应相关. 上述合在一起的不同偏振态的光透过掩模板的每个单元后会发生干涉, 并且在不同像元位置发生干涉的相位是不同的. 这样, 任意一组相邻的4个像元都发生了具有固定相位差的干涉. 对每一组像元进行相移干涉计算, 就可以获得整个样品表面的形貌数据.由于像元的位相是周期变化的，则在计算时可以重复利用相邻像元，从而实现全分辨的测量。
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4H • 4D 动态干涉仪的优点及其应用：
Xb]?/7
X 1.适合于恶劣环境下的测量
arL&^]JnZ, • 快速测量 – 测量速度只受曝光时间限制，而不受CCD帧频限制!
A0u:Fm{E • 对振动不敏感
Z=8CbS). • 减少了气流的影响－可以使用风扇均化光路气流
0)a?W,+O 2.适合于挑战性的测试设置
:FpBz~!a • 大尺寸光学元件与系统
`b'J*4|oGo • 长光程测量－不需防振台，对光强要求降低
Q & Ahr • 真空与环境仓内的测试
qk1D# 1vl 3.适合于高难度测试
nqJV1 h • 运动和共振检测
geSo#mV • ESPI
电子散斑
OBQ!0NM_b • 生产环境下检测
U%\2drM&] • 超快过程的检测
