提供芬兰Nanofoot公司半导体激光器测试系统

Nanofoot 公司的半导体激光测试设备是半导体激光器性能检测的利器，也成为半导体激光器研发和生产过程中的关键环节。他们自身在开发类似设备上的丰富经验让他们的产品更方便，更可靠，且集成多种功能，几乎能测量半导体激光器的所有参数和封装性能，如LIV 曲线，远场特性，光谱分析，smile 效应，温度特性，Visual inspection（近场特性）等。可测量巴条、裸巴、CS封装、CO封装、单管、单管半导体激光器、半导体激光模块、各种半导体激光器和水平堆栈型半导体激光器、垂直堆栈、叠阵的各个性能参数指标。 ]X5 9  
另外Nanofoot 公司还提供LED的相关测试产品——LED Testing，和三维微加工系统——3D Microfabrication system。 vAh6+K.e  

图片:FF360 farfield.jpg

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LDC5000 MVTMwwO\[  
单发光点半导体激光器自动测试系统，最高测量功率10W，对象可以是裸片和封装产品。 sRx63{  
功能： aM2l2  
● LIV 测量（光强- 电流- 电压曲线测试） m)v"3ib  
● 光谱分析（不同温度下的特性） 1V4s<m>#  
● 远场特性（发散角和能量分布） O%(fx!c`  
● 目视检查（近场分析，表面缺陷，Overhang） gL[yA?GoM  
● 可自动生成测试数据 YY)s p%  
LBC8000 !tMuuK?IL=  
巴条测试系统，最高测试功率200W，对象可以是裸巴，也可以是不同的封装方式，该系统针对不同封装方式，设计了不同的夹具。如：CS，微通道，裸巴。 /F-qP.<D,r  
功能： |_*O'#jx  
● LIV 测量（光强- 电流- 电压曲线测试） x:>wUhzZ  
● 光谱分析（不同温度下的特性） y8L D7<1u  
● 远场特性（发散角和能量分布） L,`Lggq-  
● Smile 效应分析 I)cFG{~L  
● 目视检查（近场分析，表面缺陷，Overhang） k*E\B@W>  
FF360 8U>B~9:JO  
FF360 用高速扫描的方式获得半导体激光远场特性。远场特性反映的是远场光斑的横向强度分布。扫描角度分辨率最高可达到0.03°，扫描速度可达每秒300°或者700 个采样点。该测试系统可作为独立检测单元可专门用来检测单发光点的远场特性，也可集成到LDC5000 等多功能系统中，用来测量发散角，光纤输出，远场分布等。 {VvqO7A  
FF360 既可以获得的远场二维图象，也可获取三维视图，使信息更直观。强大的软件系统，界面简洁却功能强大，易于操作而内容丰富，可输出多种格式（CSV, PDF, PNG, PS, XML）。 !?
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LPT1000 v'qG26
  
相对于单发光点半导体来说，多发光点的巴条的结构更复杂，因此，性能分析也更复杂。LPT1000 能够快速检测各发光点的LIV 特性和远场特性（可附加光谱分析），且性价比很高，是芯片生长控制的有效手段。 /#-C4"|  
LFT-BurnIn RIXMJ7e7  
LFT-BurnIn 内置可移动积分球，并为待测激光器配有冷却水。通过电脑软件对激光器的电压电流进行控制，并对激光器的温度进行监控。单个激光器最高可达到200W，最多可同时测量50 个样品。此外，该设备最大的亮点是任何时候都可以暂停，并重新开始老化进程。 E4W -hq~  
定制 ?ROqn6k&c  
除了以上产品，Nanofoot 还可根据客户的不同需求量身定做，有针对性的设计测试系统。系统集成相当灵活，可按照客户要求对特定功能进行增减和完善。 Nq` C.&