纳米压痕仪

美国NANOVEA纳米压痕测试仪 p Z|V 3  
美国NANOVEA公司是一家全球公认的压痕测试仪的领航者，生产的压痕测试仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进的设备，主要应用在：半导体技术(钝化层、镀金属、Bond Pads)；存储材料(磁盘的保护层、磁盘基底上的磁性涂层、CD的保护层)；光学组件(接触镜头、光纤、光学刮擦保护层)；金属蒸镀层；防磨损涂层(TiN, TiC, DLC, 切割工具)；药理学(药片、植入材料、生物组织)；工程学(油漆涂料、橡胶、触摸屏、MEMS)等行业； )9{0]u;9  
特点：主要用于纳米尺度薄膜材料的硬度与杨氏模量测试，测试结果通过压入载荷大小与压入深度的曲线计算得出，无需通过显微镜观察压痕面积。 #uG%j  
•完全符合ISO14577、ASTME2546 :841qCW  
•光学显微镜自动观察 ?r "{}%  
•独特的热漂移控制技术 UT~4x|b:O  
•可硬度、刚度、弹性模量、断裂刚度、失效点、应力－应变、蠕变性能等力学数据。 ;;OAQ`  
•适时测量载荷大小 s 8jV(P(O  
•采用独立的载荷加载系统与高分辨率的电容深度传感器 A 
Ru2W1g  
•快速的压电陶瓷驱动的载荷反馈系统 TCwFPlF|  
•双标准校正：熔融石英与蓝宝石 X; \+<LE  
技术参数 y1eWpPJa  
载荷范围    400mN(800mN,1600mN可选) Ju!]&
G8  
载荷分辨率    0.03μN &WuN&As!Z  
深度范围    250μm DZ'P@f)]  
深度分辨率    0.003nm Ha0M)0Anv  
热飘逸    <0.05nm/s S}m)OmrmA  
最大摩擦力    400mN taHJ ub  
Sinus 模式分析(DMA)    20HZ