EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， wkp$/IZKMj  
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， }I
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 ~8'HX*B]z  
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 -:wV3D  
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 2]r5e;  
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. "*KOU2}
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1.多层厚度（1? 到 250 microns） [?da BXS  
2.折射率n [p)2!]y  
3.吸收系数k <!X]$kvG  
4.双折射率
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5.能隙（Eg） u%Z4 8wr  
6.表面粗糙度和损伤 Rb <{o8  
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） 5!6}g<z&L  
8.薄膜温度特性 @s\}ER3  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 VD{_
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 ul"Z% 1]  
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： s3~6[T?8  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 `2'*E\   
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com 0IsnG?"  
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