TracePro主要有3个版本，介绍如下：
IoEIT Kd $6W o$c% 1、LC
aOS:rC 1. 分析模型的數量有所限制，模型物件上限為35個，
光源物件為10個。
+=XDNSw 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。
Kt (Z&@ tBtG- X2 2、Standard
;.=ZwM]C 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。
=%p%+F@RlW 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。
mA ^[S.! 3. 可完整定義光源特性，包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。
n=HId:XT 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。
q*^Y8s~ 3I 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。
X8F@U ^@ 6. 具有客制化能力，可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。
C'HW`rh.^ Ca: jN0 3、Expert
-&PiD 1. 擁有所有Standard的功能。
F9hh- "(Z 2. RepTile功能，應用於具有龐大數量的重複性微結構建模，非常適合應用於
LCD背光版的模擬分析。
y*Egt `W 3. 可求算螢光粉的
激光模擬。
0!WF,)/T7i 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。
6$1dd # k{*IR （在
http://www.opticsky.net/html/22/200806053126.html看到的。）
