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    [原创]TracePro对LED top管封装结构的模拟(原创) [复制链接]

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    离线sszbz
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    只看该作者 650楼 发表于: 2009-07-23
    非常感谢
    离线caihan0817
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    只看该作者 651楼 发表于: 2009-07-23
    楼主辛苦了,感谢楼主!!
    离线jeffzhao66
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    只看该作者 652楼 发表于: 2009-07-23
    wo ding  hahhah
    离线duoker
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    只看该作者 653楼 发表于: 2009-07-24
    谢谢分享
    离线hafuyee
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    只看该作者 654楼 发表于: 2009-07-24
    回 楼主(suezl9) 的帖子
    感恩大感謝謝
    离线王慧东
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    只看该作者 655楼 发表于: 2009-07-24
    好东西。。 欣赏下
    离线zwx314
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    只看该作者 656楼 发表于: 2009-07-24
    世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro `|[Q]+Mx  
    e+j7dmGa  
    重要特色介紹:   I!~5.  
       tRFj<yuaq  
    }O-|b#Q  
       -m3 O\X  
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    L TzD\C'  
       $C#G8Ck,  
    4 cDjf~n  
    *F[@lY\p  
    TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 -A^18r  
    Kf/1;:^  
    TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 A!\ g!*  
    Yj;KKgk  
    $hXhq*5|c  
    TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 [@(M%  
    (R5n ND  
    J'jwRn  
    在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 Js.2R$o =*  
    ErnjIx:  
    mII7p LbQ  
    -{n2^vvF  
    -------------------------------------------------------------------------------- ',$Uw|N  
    m^I+>Bp/:  
    TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: *mwHuGbZed  
    `lygJI?H+{  
    p=sL KnLmZ  
    顯示器產業: ~gg(i"V  
    1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 >$Sc}a3  
    2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 QQ;<L"VW  
    3. 可進行增亮膜的光場分析。 g<(3wL,"  
    4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 Er509zZ,[  
    5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 Ws$<B b  
    3D|Y4OM  
    cAnL,?_v  
    LED光源照明產業: oe$&X&  
    1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 1$mxMXNsJ  
    2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 )lh48Ag0t;  
    3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 bS7rG$n [  
    4. 可模擬LED的照明系統。 sF-{ (  
    J8IdQ:4^l  
    傳統光源照明產業: =A[:]),v  
    1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 A8tzIh8  
    2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 ;r<(n3"F  
    3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 +c'b=n9j  
    |W $epOLg  
    ]$Ud`<Xnx  
    汽車產業: Y%$@ZYW  
    1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 dRC RB  
    2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 FVY$A =G  
    3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 H[oCI|k  
    wwmHr!b:6  
    3%HF"$Gg  
    成像系統: bzj9U>eY  
    1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 B:5NIa  
    2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 4sJM!9eb[  
    3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 %*:X FB  
    4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 +ftOJFkI  
    }enS'Fpf`  
    !W\Zq+^^J3  
    生醫產業: lSW6\jX  
    1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 R{6~7<m.  
    2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 b{+7sl  
    3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 CB!5>k+mC  
    Q5K<ECoPk  
    ^lw0} i  
    航空國防產業: HV0!G-h  
    1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 d;:H#F+ (  
    2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 xvpCOoGsz  
    3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 Ku 'OM6D<  
    /kZ{+4M  
    #k}x} rn<'  
    消費性電子產業: $nf5bo/;  
    1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 %1JN%  
    2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 1UHlA8w7 Q  
    3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 $~^Y4 } m  
    4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 TK! D=M  
    fS@V`"O6  
    uDe%M  
    .@5Ro D[o  
    W'98ues%  
    -------------------------------------------------------------------------------- QXaE2}}P  
    TracePro模組介紹: # .j[iN :+  
    LC: {.r jp`39  
    1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 V eD<1<  
    2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 ^Fop/\E  
    &gv{LJd5b  
    Standard: v,eTDgw  
    1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 jIvSjlmI  
    2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 {p90   
    3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。  sJ3O ]  
    4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 u*h+ c8|zI  
    5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 L!>EW0  
    6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 )NjxKSiU@  
    Y-ZTv(<  
    +t8{aaV  
    Expert: n1E^8[~'  
    1. 擁有所有Standard的功能。 ~#]$YoQ&O  
    2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 VX'cFqrK3  
    3. 可求算螢光粉的激光模擬。 B* hW  
    4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 ,ve$bSp  
    Ho^rYz  
    .[Hv/?L  
    TracePro Bridge for SolidWorks: $~G=Hcl9  
    將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。  f3E%0cg  
    12olVTuw  
    世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro Q>QES-.l  
    _v\L'`bif  
    重要特色介紹:   '#*5jn]CqB  
       BKJwM'~  
    gX'nFGqud  
       .29y3}[PO  
    Z\ 1wEGP7{  
       T+knd'2V6  
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    >cdxe3I\  
       wJ}9(>id*  
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       Pkq?tm$#  
    OtsW>L@ O(  
    FHv^^u'@  
    TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 3B^`xnV  
    rL9u7) x  
    TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 o)U4RY*  
    ?E2$  
    9~lC/I')t  
    TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 x[m&ILr  
    }z|@X KA#  
    -0G/a&ss  
    在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 pI]tv@>:f  
    e^ ZxU/e  
    8~6H\.0Q  
    (;(P3h  
    -------------------------------------------------------------------------------- um}%<Cy[  
    ->q^$#e  
    TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: kaUEv\T   
    ?V9Da;cj  
    PQJI~u9te}  
    顯示器產業: .kT}E5  
    1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 ))xyaYIZkk  
    2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 -&UP[Mq  
    3. 可進行增亮膜的光場分析。 !$1'q~sO  
    4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 W_\~CntyZ  
    5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 %j7HIxZh  
    L2$`S'UW  
    NAnccB D!{  
    LED光源照明產業: #@^mA{Dt5  
    1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 s/cclFji]  
    2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 4eh~/o&h  
    3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 UifuRmn  
    4. 可模擬LED的照明系統。 $bd tiD  
    k  __MYb  
    傳統光源照明產業: }s>.Fh  
    1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。  A&8{0  
    2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 _=*ph0nu  
    3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 a|u&N:v7B  
    ab/^z0GT  
    >$ok3-tuU  
    汽車產業: iI 4XM>`a  
    1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 Z+EN]02|  
    2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 QswbIP/>:'  
    3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 D&C83^m  
    wSGW_{;-  
    .`; bQh'!  
    成像系統: qbZY[Q+F  
    1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 Mb +  
    2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 T x 6\  
    3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 NBaXfWh  
    4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 `= FDNOwp  
    VQe@H8>3  
    C(jUM!m  
    生醫產業: FcI ZG _  
    1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 %'vLkjI.  
    2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 fHc/5uYW  
    3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 =E~)svl6g  
    4w<4\zT_U}  
    TLWU7aj&!  
    航空國防產業: QgB%\mO=  
    1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 XxeyGs^%9  
    2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 1*vt\,G  
    3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 Y [ p  
    ~IIlCmMl,  
    K2gg"#ft?  
    消費性電子產業: \-eDNwJ:#@  
    1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 2J0N]`|)  
    2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 *<rBV`AP  
    3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 YgfQ{3^I  
    4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 lAZn0EU  
    cE SSSH!m  
    lQ!)0F  
    azT@S=,  
    ZBcT@hxm  
    -------------------------------------------------------------------------------- x=jS=3$8  
    TracePro模組介紹: 3g''j7  
    LC: 6O9?":3;  
    1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 8*[Q{:'.  
    2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 =xX)2h  
    =(%+S<}  
    Standard: }+3v5Nz;  
    1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 eT<T[; m  
    2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 Sru}0M#M  
    3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 stcbM  
    4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 w>6~ zAh  
    5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 qQ=\R1l  
    6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 @5Zg![G  
    rJ7yq|^Z  
    a-(OAzQ_  
    Expert: IN#Z(FMVC  
    1. 擁有所有Standard的功能。 ~4{|  
    2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 h|Os T  
    3. 可求算螢光粉的激光模擬。 J3P )oM[  
    4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 gI5"\"T{  
    :3$$PdZ  
    ;wF 0s  
    TracePro Bridge for SolidWorks: B4d\4S_r%  
    將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 @Fs2J_v  
    ~wl 4  
    世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro "oc&uj  
    M+lj g&fy  
    重要特色介紹:   <+iL@'SgF  
       CUG3C  
    y/d/#}\:  
       "pLWJvj6-  
    {iRXK   
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    V\4zK$]  
       Okt0b|=`1*  
    FvTc{"w /  
       t=B>t S.hO  
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    b!hs|emo;  
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    .W/#$s|X\  
    [(65^Zl`  
    TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 Rz\:)<G  
    hI Q 2s  
    TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 2$OI(7b=  
    |'?./  
    h|Z%b_a  
    TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 b IZuZF>*  
    ln~;Osb  
    ljJi|+^$  
    在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 pY T^Ug  
    g$P<`.  
    zJ9[),;7B  
    XoZPz  
    -------------------------------------------------------------------------------- Q(gc(bJV  
    QhqXd  
    TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: v vvH5NRm  
    X_tc\}I]  
    5OS|Vp||b  
    顯示器產業: vSf ?o\O  
    1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 `mt. =d  
    2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 ,-[e{=Cz  
    3. 可進行增亮膜的光場分析。 U|2*.''+Q  
    4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 S, g/2k*  
    5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 yCt,-mz!z  
    w!8xZu  
    WBIJ9e2~  
    LED光源照明產業: : U:>X6f  
    1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 <.6bni )  
    2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 HXY,e$c#y  
    3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 V < ;vy&&  
    4. 可模擬LED的照明系統。 ZBX,4kxK7  
    sb^%eUU])  
    傳統光源照明產業: BEfp3|Stb  
    1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 V_.n G;  
    2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 0w24lVR.  
    3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 H/Wo~$  
    |#x]FNg  
    V/; / &  
    汽車產業: H[S 4o,  
    1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 ^.]]0Rp&  
    2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 [LcHO] _^M  
    3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 'i5V6yB  
    GLIe8T*ht  
    6gSo>F4=  
    成像系統: _t+.I9kQ  
    1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 J#L"kz  
    2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 luYa+E0  
    3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 f-M9OI  
    4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 ?jDdF  
    ;K+'J0  
    Z[&7NJo(  
    生醫產業: Q, 1TD 2)h  
    1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 \4B2%H  
    2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 bOKgR{i  
    3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 {8YNmxF#  
    -55Pvg0ND  
    hj8S#  
    航空國防產業: k- ?:0  
    1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 AlQE;4yX  
    2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 v]tNJ=aI  
    3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 =@UgCu>=  
    YH%aPsi  
    j!oD9&W4~  
    消費性電子產業: w&F/P]1  
    1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 8D[,z 7n  
    2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 ;g M$%!&  
    3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 p` '8M  
    4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 u\,("2ZW9+  
    ^{vf|zZ _  
    f Cq  
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    Gxj3/&]^Y  
    -------------------------------------------------------------------------------- gp/_# QVWC  
    TracePro模組介紹: G31??L:<  
    LC: e{8j(` (;#  
    1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 ATdK)gG  
    2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 qBkI9H  
    4IW7^Pq`P  
    Standard: @n-[bN  
    1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 "gR W91 T  
    2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 [J6*Q9B<V&  
    3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 6axDuwQ  
    4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 cjd Z.jR2  
    5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 H,F/u&O  
    6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 &vy/Vd  
    C9`J6Uu  
    AxXFzMW  
    Expert: c2,1d`  
    1. 擁有所有Standard的功能。 :n4X>YL)  
    2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 :tv:46+s=  
    3. 可求算螢光粉的激光模擬。 \; b)qB  
    4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 -]uN16\ F  
    S @EkrC\4n  
    ]lKQ wpX3  
    TracePro Bridge for SolidWorks: +&w=*IAKZ  
    將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 1b6o x6  
    t:|+U:! >  
    世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro }Z|uLXaz  
    m}x&]">9  
    重要特色介紹:   2(, `9  
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    I1H} 5 bf3  
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    [w%MECTe  
    TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 X[frL)k]  
    KPGX/l  
    TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 $II[b-X?S  
    I 9yN TD  
    YU89m7cc'  
    TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 Su<Ggv"  
    idm!6]  
    }`oe<|  
    在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 (l28,\Bel  
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    @quNVx(y  
    2V}tDN7c  
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    &&0,;r, -)  
    TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: Xd_86q8o  
    )`RF2Y-A7  
    ?|8QL9Q"|  
    顯示器產業: _}X_^taTZS  
    1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 't$(Ruw  
    2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 iOB]72dh  
    3. 可進行增亮膜的光場分析。 *E<%db C2  
    4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 `U4R% qhWA  
    5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 m6a q_u{W  
    _P!J0  
    f-9& n4=H  
    LED光源照明產業: ?_e2)+q8YG  
    1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 KzeTf?G  
    2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 /znW$yh o  
    3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 (+<SR5,/3  
    4. 可模擬LED的照明系統。 z6)SaSYE  
    h1.]Nl C  
    傳統光源照明產業: q$EicH}k8  
    1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 Epm\ =s  
    2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 L\||#w   
    3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 l`L}*Q- 5  
    )5Ddvz>+  
    )bZS0f-  
    汽車產業: r;`6ML[5Vx  
    1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 ] X,C9  
    2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 #vi `2F  
    3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 !>B|z=  
    ;z;O}<8s  
    LL5n{#)N  
    成像系統: 8(UUc>g  
    1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 7:U^Ki  
    2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 M,Q(7z?#5  
    3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 ,K Ebnk|i  
    4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 :E/]Bjq$;  
     ?[Od.  
    <d,Qi.G4  
    生醫產業: *%L:soM'Ll  
    1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 u8pJjn;  
    2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 n?*Fr sZ  
    3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 TI-8I)  
    * B!uYP  
    'qS&7 W(  
    航空國防產業: 1u&}Lq(  
    1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 -QL_a8NL  
    2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 MtC\kTW  
    3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 &wsxH4  
    5" <7  
    EnXNTat})  
    消費性電子產業:  V3WHp'1  
    1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 z=>U>  
    2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 Hc1S:RW  
    3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 [mKPOg-t  
    4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 ~"89NVk"  
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    8%]o6'd4  
    -------------------------------------------------------------------------------- d^sS{m\  
    TracePro模組介紹: iJE  $3  
    LC: x 5vvY  
    1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 A{mv[x-XN  
    2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 ohqi4Y!j/~  
    -@{5 u d  
    Standard: \EF^Ag  
    1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 s86Ij>VLf  
    2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 t<5 $85Y~  
    3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 BwwOaO@L  
    4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 -ju&"L B  
    5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 45e-A{G~  
    6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 XnmQp)nyV  
    $s-/![ 6  
    {fe[$KQ  
    Expert: _]btsv\)f  
    1. 擁有所有Standard的功能。 7M*&^P\}es  
    2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 ssGp:{]v/  
    3. 可求算螢光粉的激光模擬。 vZ[wr@)  
    4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 a"gZw9m@  
     nen(  
    v7x %V%K  
    TracePro Bridge for SolidWorks:  ,83%18b  
    將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。
    离线liuliuxia
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    只看该作者 657楼 发表于: 2009-07-24
    谢谢分享好好研究下
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    只看该作者 658楼 发表于: 2009-07-27
    好东西谢谢
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    只看该作者 659楼 发表于: 2009-07-29
    好, 正是我需要的东西