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TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。
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TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 A_pcv7=@
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TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 -a+oQP]O
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在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 WHk rd8
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TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: >Y)FoHa+/
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顯示器產業: .dw;b~p
1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 sry`EkS
2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 hsJS(qEh.'
3. 可進行增亮膜的光場分析。 1cdX0[sN
4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 a?
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5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 2;`F`}BA
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LED光源照明產業: #U?=D/
1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 wK*b2r}0/
2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 ;n2b$MB?nM
3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 L9bIdiB7
4. 可模擬LED的照明系統。 &{=`g+4n
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傳統光源照明產業: {!av3Pz\
1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 hcrx(oJ5
2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 ^(.utO
3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 G
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汽車產業: i9B1/?^W&
1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 )an,-EIX%
2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 a"pejW`m
3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 $8t\|O3
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成像系統: MoP,a9p
1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 n%%u0a%
2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 vkg."G:=
3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 &-B&s.,kj
4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 mj^]e/s%
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生醫產業: Yv7`5b{N.
1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 r<XlIi
2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 F3,djZq
3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 $0wF4$)
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1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 Ymr\8CG/
2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 ypA)G /;
3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 :1(UC}v
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消費性電子產業: l0g`;BI_
1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 /{7we$+,p
2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 H,5##@X
3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 EHC^ [5
4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 q1O}dSPwX
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1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 G*$a81dAX
2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 TR([u
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1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 .7EZB
2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 ^68BxYUoD\
3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 %M_5C4&6
4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 Q8sCI An{
5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 NA`EG,2
6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 Y><")% Q
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1. 擁有所有Standard的功能。 te b~KM
2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 8*V8B=q}K
3. 可求算螢光粉的激光模擬。 >5|;8v-r
4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 0Q_@2
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將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 c*"TmDY
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重要特色介紹: H@8g 9;+
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TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 3psCV=/z
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TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 hOX$|0i
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TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 gJVakR&
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在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 vYD>m~Qc^
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TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: 6NCa=9
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顯示器產業: bl>MD8bzLE
1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 yiUJ!m
2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 xw5E!]~D
3. 可進行增亮膜的光場分析。
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4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 %<e\s6|P:
5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 YZCPS6PuE
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LED光源照明產業: Y"mD)\Bw?
1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 a$MMp= p
2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 Lp%V$'
3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 B{W2D
4. 可模擬LED的照明系統。 G:.Nq,513
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傳統光源照明產業: S\Qh#yFT
1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 ,z)7rU`
2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 _tQ=ASe0
3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 Nh41o0
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汽車產業: PZO 7eEt8
1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 &_&])V)<\S
2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 `^s(r>2
3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 ?Z]}G
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成像系統: +I2P{7
1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 )^)V yI`O
2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 tqrvcnQr^
3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 `NV =2T
4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 C^r 3r6
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生醫產業: mCtuyGY
1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 i,ku91T
2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 f+s'.z%
3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 )G
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航空國防產業: /k1&?e
1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 U%_a@&<
2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 +F 6KGK[
3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 8&ZUkDGkJ
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消費性電子產業: I]Wb\&$
1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 "SyyOD
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2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 #>~$`Sg
3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 "C=HBJdYB5
4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 pWps-e
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TracePro模組介紹: C(iA G
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1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 Z#>k:v
2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 &J"a` l2
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1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 -mX
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2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 Ks
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3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 .,m$Cm
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5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 Fw"~f5O
6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 ])~*)I~Y
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1. 擁有所有Standard的功能。 qg.[M*
2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 hUA3(!0)
3. 可求算螢光粉的激光模擬。 Di-"y, [
4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 ,fET.s^|U
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TracePro Bridge for SolidWorks: Jz:d\M~j5
將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 'Q(A5zfN]Y
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世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro 0U`Ic_.
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TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 4F:RLj9P!
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TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 >Q+EqT
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TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 8sbS7*#
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在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 **s:H'M w_
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TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: W%h<@@c4,
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顯示器產業: a[#4Oq/t$
1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 l0@$]76cX;
2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 Q kQd;y
3. 可進行增亮膜的光場分析。 RNt3az
4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 YK[O#V
5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 5Cz:$-+
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1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 "?S#vUS+ 2
2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 !8A5Y[(XD
3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 9td(MZ%i~N
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1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 (wA|lK3
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1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 8?)Da&+f
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1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 tr'95'5W.
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3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 ?=T&|pp
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1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 #/1Bam6
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1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 RoiMvrJQP
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3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 Iq52rI}
4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 8<G@s`*
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TracePro模組介紹: duqu}*Jw
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1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 7oWv'
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3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 5N6%N1
4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 msCAC*;,
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1. 擁有所有Standard的功能。 ~9n@MPS^!
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世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro C +IXP
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TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 k/LV=e7
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TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 5|Y4GQVz
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TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 e88JT_zrO
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在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 n8iN/Y<%U
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TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: +EpT)FJX
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顯示器產業: m xWaXb
1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 {
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2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 'rg$%M*(
3. 可進行增亮膜的光場分析。 qH-dT,`"{
4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 Bf7RW[ -v
5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 B!Qdf8We
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LED光源照明產業: >N*QK6"=|
1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 IUZsLNW
2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 2L,e\]2Z
3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 #fFEo)YG
4. 可模擬LED的照明系統。 +/Z:L$C6
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傳統光源照明產業: 2V
1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 W0?yPP=.
2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 ?d_Cy\G
3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 r3KV.##u,
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汽車產業: $GYy[-.`
1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 ]=pEs6%O3
2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 }q~A( u
3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 r`
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成像系統: ,{.&xJ$
1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 R{*p\;
2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 ]`|bf2*eA
3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 6L*y$e"Qc
4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 zZDr=6|r_
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生醫產業: Cd(Ov5%
1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 'Oq}BVR&
2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 |g7E*1Ie
3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 ZkK +?:9
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航空國防產業: +}:c+Z<
1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 1&m08dZm5
2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 5v?6J#]2
3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 L=VuEF
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Y[pGaiN:
消費性電子產業: FS']3uJ/
1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 ?C4a,%
2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 "cti(0F-d
3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 3nG(z>
4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 O[8Lp?
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TracePro模組介紹: K;YK[M1!
LC: 8T1`TGSFC
1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 ]5}
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2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 ZL@7Mr!e
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Standard: =JEnK_@?K\
1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 (D))?jnC
2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 S__ o#nf`%
3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 Kp!P/Q{
4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 2o{Fp7l
5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 }-Zfljj
6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 ,g/ UPK8K=
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Expert: kR'!;}s
1. 擁有所有Standard的功能。 ZL-@2ZU{1
2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 YwKY3kL
3. 可求算螢光粉的激光模擬。 bk"` hq
4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 =WN6Fj`
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TracePro Bridge for SolidWorks: %(n4`@
將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。