摘要
X[ up$< bp?4)C*R 干涉测量是一种
光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，
机械和高
精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非
序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干
激光源的马赫-曾德尔
干涉仪，本案例清楚地展示了
光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。
*wetPt)~v_ C [h^bBq 建模任务
' Zmslijf kan4P@XVS 8o4?mhqV 元件倾斜引起的干涉条纹
c- {;P>L RTR@p =ck X0QLT:J b
元件移位引起的干涉条纹
c_YP #U $ "G=r(MW 4(FEfde= 文件信息
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