西安光机所:双编码计算显微成像,攻克低频相位缺失难题传统无透镜编码叠层成像(CP)及类似方法普遍存在低频相位信息缺失的问题。 中国科学院西安光机所瞬态光学研究室研究团队提出了一种基于多角度照明与编码叠层的计算显微成像方法(Multi-angle CP)。相关研究成果以《Lensless quantitative microscopy based on multi-angle illumination and coded ptychographic phase retrieval》为题发表于2026年04月Optics Letters,该方法采用“照明-探测”双编码模式: ·照明端通过横向平移筒镜产生不同入射角度的平面波提供相位多样性; ·探测端引入编码层作为支撑域约束增强相位恢复收敛性。该策略有效提升了相位重构精度,克服了低频相位信息缺失的瓶颈。 传统编码叠层成像与所提方法系统原理对比 该方法有效提升了相位重构精度,解决了低频相位信息缺失的难题。 论文第一作者为西安光机所杨力铭特别研究助理,通讯作者为西安光机所吴腾飞研究员和姚保利研究员。 论文链接:https://doi.org/10.1364/OL.585444 分享到:
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gangzi0801 2026-05-28 22:12关注科研动态!




