摘要 4#(/{6J A$wC!P|; 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射(FTIR)的效果,由两个
玻璃棱镜组成,它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄,部分
光线将通过边界,由倏逝波通道到另一侧,而其余的将被反射。
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*)Pm WHC/'kvF 系统设置 +t,b/K(?] `/WxEu3
yP]>eLTSd ]|3hK/ 非序列追迹 iM8Cw/DS
M5VW1Ns
o`CM15d*7o (3N/DY1/ 通道配置模式设置为“手动配置”时,用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时,可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后,通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
0o8`Y I;@q`Tm 非序列追迹的通道设置 zYaFbNi
!mK()# 6
{mU%.5 e;vI XJE 受抑全内反射(FTIR) j*QdD\)
9po=[{Bp
qq!ZYWy2 c%5P|R~g]p 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是,分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波,从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面:
DQ0S]:tC [lIX&!T" 分层的介质成分 vL _yM JcRxNH
)<"
al#(<4sJ -+){ ;, 层矩阵求解器 46vC/ fOMaTnm' 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域(K域)工作。它由以下部分组成
d\qszYP[ 1. 每个均质层的特征模式求解器,以及
v^eAQoFLhN 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
;^:8F 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应,通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
&7'=t6 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法,因为与传统的转移矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
^X_ ;ZLg. xlZh(pf
O\7x+^. y3j$?oM 更多相关信息:
npeL1zO-$ 层矩阵[S-矩阵] OR&pGoW 8@vq.z} 系统概述 (光线结果概述:3D系统) (w-"1( "6]oi*_8
UZ/LR $-DW+|p.?^ 间隙厚度分析 JRBz/ j
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MNU7OX< ]|F`;} 7 在一个基于FTIR的立方体分光镜中,反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中,这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
.;31G0<w2 参考文献:Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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