摘要 8Ld{Xg $>^DkrOd 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
Wk<he F i2.g}pM.A 
LF6PKS ^#-d^ )f; 系统设置 jlaU3qXL Xa o*h(Q@L 
Z*uv~0a>9Q h[eC i 非序列追迹 lG oP(ki
u NmbR8Mx
3 s%Kw,z :c75*h` 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
WXq=FZ- P;~`%,+S 非序列追迹的通道设置 Y=G9|7 *lO
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1f }YKT v9*ugu[K9 受抑全内反射（FTIR） HKB?G~
2Xw=kw u
xA7>";sla[ +lYo5\1= 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
_\"2Mdk`] nR %ey" 分层的介质成分 |ty?Ah,vb /H (55^EMZ 
L
i g7Ac, "rl(%~Op 层矩阵求解器 1R-1#<a>& 7 C;oMh5 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
}>93X0%r 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
bm>N~DC 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
K UD.hK. 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
Ppton+?( 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
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*)3 o:wI{?%-3 更多相关信息：
V><, . p8 层矩阵[S-矩阵] gPE` mE 6y+_ x' 系统概述 (光线结果概述：3D系统) {<}9r6k ;f ! V^wq]D2 
42oW]b%P{; XJZ\ ss 间隙厚度分析 M&[bb $00j
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c1ga{c`Z K0aT(Rc
e 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
WrHY' 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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