-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-04
- 在线时间1926小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 ECHl 9;
+
_nw=^ zS
干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 gQy {OU
_E q*
 ,arFR'u> p x;X} Cd 建模任务 :%GxU;<E{ 0Yz
&aH  O8 BxXa@5
"0Xa?z8" 元件倾斜引起的干涉条纹 ~F7 +R RFF& -M]
 ;{b 1' @kU{ 元件移动引起的干涉条纹 {XYv &K
TTjj.fq6
 ^bpxhf
x yjCY2T E 走进VirtulLab Fusion c-nBB
pQ 0yZpN%;
 3md yY\+& K{[yS B VirtualLab Fusion工作流程 >L$g ;(g 9vc3&r −基本源模型[教程视频] uS :3Yo
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] 5=CL R
a&YD4DQ05
 NJ8QI(^"
dtJaQ` VirtualLab Fusion技术 w- Zb($_
4xLU15C
 9 k.LV/Y 摘要 ?8 wFT!J e* gCc7zz
干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 ` X?l`H;#
_%Q\G,a;
rtcY(5Q .v [8ie 建模任务 [sG=(~BU 8.D$J BBw]>*
GCul6,w 元件倾斜引起的干涉条纹 O?Xg%k# `T $lTP
$x;wnXXXM btb-MSkO 元件移动引起的干涉条纹 +) 2c\1
^! ^8]u<Q
i}Ea>bi{N ]dk44,EL 走进VirtulLab Fusion 2GECcx53
V/i &8UMw
s$xctIbm?, *=}$@O S VirtualLab Fusion工作流程 ?bbu^;2*f o?uTL>Zin −基本源模型[教程视频] '/
3. .3k
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] 30]?Jz6m
u#XNl":x
* EOIgQp
>69xl^Gd VirtualLab Fusion技术 #: L|-_=a
M$A"<5
^.jIus5 YhFB*D;
|
