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摘要 4%Wn}@ Y?q*hS0!H 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 %QlBFl0a +=lcN~U2
o8yEUnqN 3]5&&=# 建模任务 ^~hhdwu3a x#!{5;V&K 7~k~S>sO D6@4 元件倾斜引起的干涉条纹 ~P.-3 A/W7;D
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7ohK TPmZ/c^ 元件移动引起的干涉条纹 AF{7<v>/P e&VR>VJEA
_s#/f5<:B znDtM1sLeV 走进VirtulLab Fusion |'>E};D t,as{.H{h
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