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光学测量>显微镜 { 9\/aXPS t)~$p#NS Rtl1eJ- LX=v
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J 亮点 Y4X`(\A HEhBOER?
YQD/vc~8G s'IB{lJ9 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 b@K1;A! S 数秒内快速的高性能分析复杂系统 R|wS*xd , 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 Gm0}KU 研究偏振效应 ;W FiMM\ +RkXe;q 说明:光源 kXlI*h 角向偏振光 +V[;DOlll /~c9'38
EVA&By6_k UQ@szE e#F3KLSL` kVG+Wr7l0F 径向偏振光 ,^eOwWV Hc8!cATQk $'<$:;4b3 nHp$5|r< 说明:透镜系统 5 [4{1v |_ U!i \pSRG=` 2d
YU 说明:样品结构 Z
J1@z. L&uPNcZ`- ,wv>G]v Ra:UnA 说明:探测器 F|o1r }ov>b2H#<
t\Qm2Q)> UDnCHGq 结果:3D光线追迹 ?@MWV jX*gw6! _x,(576~
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n%k. 角向偏振光 B8!$?1*^a 1(%6X*z dP]Z: r/HG{XH` 结果:光线追迹衍射级 ?`6Mfpvj96 Vf=,@7 角向偏振光 7_lgo6 ZZfi,0R T]b&[?p|a[ mGoC8t}iP 结果:场追迹 {BJH}vV1) 角向偏振光 t~!ag#3['. 1 CV? rhGB l`(B ]g,j 结果:光线追迹 x`'s 径向偏振光 Qp2~ `hD k
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