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光学测量>显微镜 yv| |:wZC J<dr x_gc YGrmco?G dK|6p_ 亮点 HrQBzS ]0P-?O:
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) [su2kOX|X 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 VD+TJ` r 数秒内快速的高性能分析复杂系统 8v)pPJr 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 yiyyw,iy 研究偏振效应 NYtp&[s2- @$'k1f(u> 说明:光源 |T7 < ! 角向偏振光 n[4F\I> -;=0dfC(
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PI>Q }.O,P'k 径向偏振光 4$9WJ~V{ z7'3d7r? fk-zT 1<a+91*=e 说明:透镜系统 UO^"<0u qPsf`nI7 r@L19d)J HNN,1MN 说明:样品结构 ^n#6CW*n {8D`A;KD HJ[@;F|aU X%Jq9_
说明:探测器 l6ayV v <1d3G=G
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(xw) pR 结果:光线追迹 8'J"+TsOW 9[}L=n 角向偏振光 Yt79W *gMo(-tN &rs+x< $%9.qy\8 结果:光线追迹衍射级 6$-Ex Z
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v|Y:'5`V |uT|(:i84, _E0XUT!rA 结果:光线追迹 ^PDz"L<* 径向偏振光 ?K]Cs&E4 )U0`?kD
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